최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록실용신안 |
---|---|
국제특허분류(IPC8판) |
|
출원번호 | 20-2002-0019433 (2002-06-27) |
등록번호 | 20-0290242-0000 (2002-09-11) |
DOI | http://doi.org/10.8080/2020020019433 |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
심사진행상태 | 설정등록의뢰 |
법적상태 | 소멸 |
본 고안은 다이오드 가속 수명 시험장치에 관한 것으로서, 다이오드의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 한 것이다.본 고안은 판상의 시험 설치편(12)이 지지봉(14)을 통해 복수층으로 설치되는 다이오드 시험 본체(10)와, 상기 다이오드 시험 본체(10)의 시험 설치편(12)에 등간격으로 위치되어 각각이 접촉되면서 전기적으로 연결되게 설치되는 플러스 단자(16)와, 상기 플러스 단자(16)의 측부에 플러스 단자(16)와 대향되게 설치됨과 아울러 각각이 접촉되어 전기적으로 연결되게 설치되는 마이너스 단자(18)와,
시험 설치편(12)이 복수층으로 설치되는 다이오드 시험 본체(10)와, 상기 다이오드 시험 본체(10)의 시험 설치편(12)에 등간격으로 위치되어 각각이 접촉되게 설치되는 플러스 단자(16)와, 상기 플러스 단자(16)의 측부에 플러스 단자(16)와 대향되게 설치되는 마이너스 단자(18)와, 상기 플러스 단자(16) 및 마이너스 단자(18)와 전원단자(22)를 독립적으로 연결시키는 전원선(20)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 다이오드 가속 수명 시험장치.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.