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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 공개 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | 17501368 (2021-10-14) |
공개번호 | 20220178787 (2022-06-09) |
우선권정보 | SG-10202010191P (2020-10-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 0 |
A manual inspection system and method to inspect for defects in Contact lenses comprising; an image acquisition system with at least two high resolution cameras; Top illumination light head used for acquiring Bright field images; a Backlit illumination module to acquire Dark field images; at least a
1. A defect analysis and tracing system for clear and cosmetic contact lenses using rear projection, comprising: a glass cuvette curved to hold a contact lens;a pair of illumination modules directed towards the cuvette for back and front Illumination;a diffuser mounted on a horizontal swivel arm to
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