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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | B01K-001/00 G01M-027/26 |
미국특허분류(USC) | 23/254E ; 23/255E ; 73/23 ; 73/4215 |
출원번호 | US-0539764 (1975-01-09) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
인용정보 | 피인용 횟수 : 27 인용 특허 : 0 |
A gas sampling analyzing system is provided whereby flue or process gasses are aspirated from a process duct to an analyzer and are therefrom returned back to the process duct to prevent condensation at the system exhaust. The sampling analyzing system is enclosed in an internally heated manifold to prevent condensation of the sampled gas and insure an accurate analysis by the system. The sampling analyzing system has an analyzer assembly connected in parallel with a drop tube with the combination being connected to a sample probe on one side and to a su...
A gas sampling analyzing system for analyzing gasses within a duct comprising: probe means, mountable within the duct, to draw a sample of the gasses therein; an analyzer assembly mounted outside of the duct and being connected to said probe means to analyze said sample; an exhaust line connected to said analyzer assembly for exhausting the analyzed gas from said analyzer assembly back to the duct; and aspirator means mounted externally of the duct for inducing a substantially constant flow of sample gas from the duct to said probe means to said analyzer...