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Admittance measuring system for monitoring the condition of materials 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-011/52
  • G01R-027/26
출원번호 US-0507540 (1974-09-19)
발명자 / 주소
  • Maltby Frederick L. (Jenkintown PA) Kramer L. Jonathan (Devon PA) Loewenstern Kenneth M. (Warminster PA)
출원인 / 주소
  • Drexelbrook Controls, Inc. (Horsham PA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 12  인용 특허 : 0

초록

An intrinsically safe system for monitoring the condition of materials includes a low power, stable frequency RF oscillator of the class C type comprising a resonant circuit which is coupled to a bridge network including the admittance of materials between a probe electrode and a grounded support me

대표청구항

In a two-wire transmitter system comprising a power supply and a load at one location and a two-wire transmitter at another location interconnected by a pair of transmission lines carrying a variable signaling current in a signaling range having a minimum current of substantially 4 milliamps and pow

이 특허를 인용한 특허 (12)

  1. Sanders Gary G. (Rock Falls IL) Goodwin Brian J. (Rock Falls IL), Apparatus and method for sensing material level by capacitance measurement.
  2. Wernet, Armin; Dieterle, Roland; Krumbholz, Andreas, Apparatus for determining and/or monitoring a process variable.
  3. Brenner Raul ; Esin Alex J. ; Jones Lawrence J. ; Rosselson Boris, Capacitance level sensor.
  4. Frederick K. Husher ; Gerard Schneider ; Lazaro Ramirez, Duet jfet rf oscillator-detector for flow cytometer.
  5. Maltby Frederick L. (Jenkintown PA) Kramer L. Jonathan (Warminster PA), Fail-safe instrument system.
  6. Hafer Kevin G. ; Kramer L. Jonathan, High accuracy measuring system.
  7. Bogdanchik, Peter J., Level detector for measuring foam and aerated slurry level in a wet flue gas desulfurization absorber tower.
  8. Kingsley, Stuart A.; Sriram, Sriram S.; Kleefstra, Meindert, Opto-electric device for measuring the root-mean-square value of an alternating current voltage.
  9. Stuart A. Kingsley ; Sriram S. Sriram ; Meindert Kleefstra, Opto-electric device for measuring the root-mean-square value of an alternating current voltage.
  10. Kawamoto Hirohisa (Princeton NJ) Allen ; Jr. Elmer L. (Philadelphia PA), Resistivity measurement system.
  11. Chiang, Ming-Cheng, Signal transceiving circuit and noise reduction circuit.
  12. Husher Frederick K. ; Schneider Gerard ; Ramirez Lazaro, Solid state RF oscillator-detector for flow cytometer.
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