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Seal for an instrument probe assembly 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01G-007/00
  • H01B-017/30
출원번호 US-0757869 (1977-01-10)
발명자 / 주소
  • Beaman Norman Vane (La Habra CA)
출원인 / 주소
  • Robertshaw Controls Company (Richmond VA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 0

초록

There is disclosed an instrument probe assembly having a positive seal to prevent invasion of process fluids into the cavity of the assembly body. The instrument probe assembly comprises an elongated probe member which projects from a through passageway of the assembly body. The latter has attachmen

대표청구항

A sealed pressure fitting for mounting in an aperture of a pressure vessel which comprises: a body having a body gland end for insertion into said aperture and sealing and attachment means to secure said body in a fluid tight connection therein; a probe member projecting into said pressure vessEl th

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Beaman Norman V. (La Habra CA), Capacitance probe.
  2. Lenormand, Roland; Chaput, Christophe, Capacitive probe for measuring the level of an electricity-conducting liquid in a vessel and method of manufacturing such a probe.
  3. Dietmeier,Juergen, Coaxial gapless guide-through assembly for a filing level sensor.
  4. Almog,Edan; Meirov,Henri, Data transfer between phase independent clock domains.
  5. Lease Benjamin N. ; Dollison Lee Paul, Fluid sensor.
  6. Beaman Norman V. (La Habra CA), Instrument probe assembly having continuous probe insulation.
  7. Hansen ; III Charles C. (Hinsdale IL) Yencho John A. (Elmhurst IL) Barbier William J. (Hazelwood MO) Knapp Curtis H. (Aurora IL) Kuhn ; Jr. Orval J. (Warrenville IL), Liquid level control system for refrigeration apparatus.
  8. Queyquep Cesar L., Probe secondary seal.
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