$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Apparatus for measuring displacement in at least two orthogonal dimensions 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-003/22
  • G01B-005/20
출원번호 US-0779554 (1977-03-21)
우선권정보 GB-0011881 (1976-03-24); GB-0011882 (1976-03-24)
발명자 / 주소
  • McMurtry David R. (Wotton-under-Edge GB2)
출원인 / 주소
  • Rolls-Royce Limited (London GB2 03) Renishaw Electrical Limited (Gloucestershire GB2 03)
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 0

초록

Measuring apparatus comprises a probe having a stylus supported on a housing by a spring extending in a plane transverse to the axis of the stylus and allowing the stylus to pivot about a center lying on the axis and to move linearly in the direction of the axis. A sensor has fixed and movable parts

대표청구항

Apparatus for measuring displacement in at least two orthogonal dimensions comprising a support, a stylus connected to said support for displacement from a rest position pivotally about a center and linearly along an axis containing said center, a first and a second sensor each having a first compon

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Hajdukiewicz,Peter; McFarland,Geoffrey, Analogue probe.
  2. Dunn, Benjamin N.; Comb, James W.; Erickson, Hans P.; Wanzek, Jason P., Auto tip calibration in an extrusion apparatus.
  3. Richter, Frank, Ball-shaft connection.
  4. Germano Francesco (Turin ITX) Cavicchioli Ugo (Borgaro Torinese ITX), Bidimensional tracer of machine tools or measuring machines.
  5. Matthew A Stoodley GB, Locating arm for a probe on a coordinate positioning machine.
  6. Andrew G Butter GB; David R McMurtry GB, Measuring probe with diaphragms and modules.
  7. Butter,Andrew G; McMurtry,David R, Measuring probe with diaphragms and modules.
  8. Shen Yin-Lin (1297 Browns Mill Ct. Herndon VA 22070) Lee James D. (13010 Esworthy Rd. Gaithersburg MD 20878), Method of improving accuracy of touch trigger probe.
  9. Aehnelt Hans-Peter (Oberkochen DEX) Enderle Eckhard (Aalen/Dewangen DEX) Wirth Michael (Aalen DEX), Probe head of the switching type.
  10. Schiler Frederick S. (Stow OH) Young Gary D. (Akron OH), Statically balanced inspection probe assembly.
  11. McMurtry David R. (Wotton-Under-Edge GBX) Powley David G. (Alveston GBX), Surface-sensing device.
  12. Cusack Robert F. (Grosse Pointe MI), Touch probe.
  13. Willoughby, Timothy R., Touch probe.
  14. Nakaya Tadao (Utsunomiya JPX), Touch signalling probe.
  15. McMurtry David R. (Wotton-Under-Edge GBX), Workpiece inspection method.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로