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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0827428 (1977-08-24) |
우선권정보 | DE-2717048 (1977-04-18) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 0 |
A high pressure diaphragm test cell includes upper and lower parts. A clamp assembly is provided which enables the cell parts to be clamped together or released by a single person. The clamp assembly includes a carrier frame connected to the upper cell part. A vertical carrier pin extends downwardly
A clamp assembly for a high pressure diaphragm test cell assembly comprising an upper cell part including a wedge flange and a lower cell part including a wedge flange, said clamp assembly comprising: a carrier frame including means for fixing said frame relative to a stationary support; means for s
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