[특허]Sampling system for mass spectrometer

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Sampling system for mass spectrometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	B01D-059/44 H01J-039/34
출원번호	US-0949295 (1978-10-06)
발명자 / 주소	Bursack William W. (Minneapolis MN) Tromborg Erik T. (Minneapolis MN)
출원인 / 주소	Honeywell Inc. (Minneapolis MN 02)
인용정보	피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 2

초록 ▼

An apparatus for introducing a gaseous sample into a mass spectrometer is disclosed which includes a hollow antechamber or cavity disposed between the sample stream and the high vacuum enclosure. Orifice openings are provided in the antechamber which allow the antechamber to communicate both with the high vacuum enclosure and the sample stream. An electrically operated pulsed valve is used to admit a series of small volumes of sample by pulses of controlled duration and frequency such that the sample flow from the antechamber into the high vacuum enclosure can be made to resemble one of essentially constant flow.

대표청구항 ▼

An apparatus for introducing a gaseous sample into an enclosure of high vacuum, such as a mass spectrometer, said apparatus comprising: sealing means between a supply of gaseous sample and said enclosure of high vacuum said sealing means further comprising an enlarged hollow cavity forming an antechamber between said enclosure of high vacuum and said gaseous sample supply said cavity having a first opening therein in comunication with said gaseous sample for admitting amounts of said gaseous sample into said antechamber and a second opening in said antechamber in communication with said enclosure of high vacuum allowing the passage of said sample into said enclosure of high vacuum; closure means for closing said first opening; and means for operating said closure means such that pulses of said gaseous sample are admitted to said antechamber of a predetermined duration and frequency in such a manner to provide a substantially steady state flow condition into said enclosure of high vacuum.

이 특허에 인용된 특허 (2)

French John Barry (4 Thornbank Road Thornhill ; Ontario CA) Reid Neil M. (165 Royal Orchard Blvd. Thornhill ; Ontario CA) Buckley Janette A. (6 Tepee Court Willowdale ; Ontario CA), Apparatus for analyzing trace components.
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Bursack William W. (Minneapolis MN), Test instrument.
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이 특허를 인용한 특허 (13)

Hanna David A. (Boulder CO), Chop mode operated mass spectrometer for reducing the effect of line signals.
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Adams Thomas E. (Ithaca NY) Grant Edward R. (Ithaca NY) Rockney Bennett H. (Ithaca NY) Morrison Richard J. S. (Ithaca NY), Electromagnetic valve for pulsed molecular beam.
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McMurtry, Gary M; Kokubun, Daniel N, Environmental sampler for mass spectrometer.
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DeRoos, Fred L.; Mueller, Mark E.; Roehrig, Mark A., Fluid permeation testing apparatus employing mass spectrometry.
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DeRoos, Fred L.; Mueller, Mark E.; Roehrig, Mark A., Fluid permeation testing method employing mass spectrometry.
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Bateman, Robert Harold; Giles, Kevin; Pringle, Steven Derek; Wildgoose, Jason Lee, Ion mobility spectrometer with upstream devices at constant potential.
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Littlejohn Duane P., Ion pump relay control.
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Mehdi Moini ; Longfei Jiang, Mass spectrometer apparatus for analyzing multiple fluid samples concurrently.
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Tou James C. (Midland MI), Mass spectrometer sampling system for a liquid stream.
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Finlay, Alan, Mass spectrometer system.
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Yamada, Toshiki; Shinohara, Hidenori; Mashiko, Shinro; Kimura, Katsumi, Method and apparatus for generation of molecular beam.
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Yamada,Toshiki; Shinohara,Hidenori; Mashiko,Shinro; Kimura,Katsumi, Method and apparatus for generation of molecular beam.
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Ouyang, Zheng; Chen, Tsung-Chi, Systems and methods for analyzing a sample.
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특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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내보내기 구분	파일저장 인쇄 메일전송
구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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