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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0897037 (1978-04-17) |
우선권정보 | DE-2717507 (1977-04-20) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 2 |
A workpiece is passed through a beam of either continuous or pulsed light which is interrupted thereby. The light impinges on a phototransducer such as a phototransistor, which is connected to an evaluation circuit. The evaluation circuit evaluates instantaneous light values with respect to movement
Apparatus to test workpieces for size, relative position, material integrity, and the like, comprising means (1, 2, 3) including a light source (1) generating and projecting a beam of light (5) on the workpiece (4); light receiving and electrical transducer means (7) located in the path of the beam
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