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Radio receiver alignment indicator 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04B-001/06
출원번호 US-0876386 (1978-02-09)
발명자 / 주소
  • Gould Larrie A. (Arlington TX) Reed Kim W. (Fort Worth TX)
출원인 / 주소
  • Motorola, Inc. (Schaumburg IL 02)
인용정보 피인용 횟수 : 40  인용 특허 : 0

초록 ▼

A predetermined frequency alignment signal and a white noise source signal are alternately switched through the intermediate frequency amplifier stage (IF) of the receiver being aligned. A series connected integrating capacitor and tuning meter couple between the receiver\s detector output and groun

대표청구항 ▼

Indicator means for indicating the relative alignment of an FM radio receiver, having a tuned intermediate frequency (IF) stage followed by a detector stage, which detector stage produces an output representative of the change in frequency of a signal applied at its input, comprising: signal generat

이 특허를 인용한 특허 (40)

  1. Strid, Eric; Gleason, K. Reed, Active wafer probe.
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  2. Strid,Eric; Gleason,K. Reed, Active wafer probe.
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  3. Holden Alan R. ; Montalvo Antonio ; Myers Richard H., Apparatus and methods for tuning bandpass filters.
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  4. Holden, Alan R.; Montalvo, Antonio; Myers, Richard H., Apparatus and methods for tuning bandpass filters.
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  5. Strid, Eric; Campbell, Richard, Calibration structures for differential signal probing.
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  6. Campbell, Richard; Strid, Eric W.; Andrews, Mike, Differential signal probe with integral balun.
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  7. Strid, Eric; Campbell, Richard, Differential signal probing system.
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  8. Campbell, Richard L.; Andrews, Michael, Differential waveguide probe.
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  9. Burcham, Terry; McCann, Peter; Jones, Rod, Double sided probing structures.
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  10. Burcham,Terry; McCann,Peter; Jones,Rod, Double sided probing structures.
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  11. Andrews, Peter; Hess, David; New, Robert, Interface for testing semiconductors.
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  12. O'Brien, Jeremiah Christopher, Method and apparatus for offset cancellation in a wireless receiver.
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  13. Hayden, Leonard; Martin, John; Andrews, Mike, Method of assembling a wafer probe.
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  14. Leake Bernard W. (Beaverton OR) Davidson Andrew C. (Portland OR), Method of compensating for frequency errors in noise power meters.
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  15. Davidson Andrew C. (Portland OR), Noise parameter determination method.
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  16. Strid,Eric; Campbell,Richard, On-wafer test structures for differential signals.
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  17. Hayden,Leonard; Rumbaugh,Scott; Andrews,Mike, Probe for combined signals.
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  18. Hayden,Leonard; Rumbaugh,Scott; Andrews,Mike, Probe for combined signals.
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  19. Hayden,Leonard; Rumbaugh,Scott; Andrews,Mike, Probe for combined signals.
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  20. Campbell,Richard L.; Andrews,Michael; Bui,Lynh, Probe for high frequency signals.
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  21. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Strid,Eric W.; Andrews,Mike; Martin,John; Dunklee,John; Hayden,Leonard; Safwat,Amr M. E., Probe for testing a device under test.
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  22. Schwindt,Randy, Probe holder for testing of a test device.
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  23. Boguslavskij, Mihail; Rückerl, Gottfried, Receiver system and method for transmitting information for an otological device.
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  24. Cowley, Nicholas P., Relating to demodulator alignment correction in tuners.
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  25. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Strid,Eric W.; Andrews,Mike; Martin,John; Dunklee,John; Hayden,Leonard; Safwat,Amr M. E., Shielded probe for high-frequency testing of a device under test.
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  26. Gleason, K. Reed; Lesher, Tim; Strid, Eric W.; Andrews, Mike; Martin, John; Dunklee, John; Hayden, Leonard; Safwat, Amr M. E., Shielded probe for testing a device under test.
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  27. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Andrews,Mike; Martin,John, Shielded probe for testing a device under test.
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  28. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Andrews,Mike; Martin,John, Shielded probe for testing a device under test.
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  29. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Andrews,Mike; Martin,John, Shielded probe for testing a device under test.
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  30. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Strid,Eric W.; Andrews,Mike; Martin,John; Dunklee,John; Hayden,Leonard; Safwat,Amr M. E., Shielded probe for testing a device under test.
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  31. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Strid,Eric W.; Andrews,Mike; Martin,John; Dunklee,John; Hayden,Leonard; Safwat,Amr M. E., Shielded probe for testing a device under test.
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  32. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Strid,Eric W.; Andrews,Mike; Martin,John; Dunklee,John; Hayden,Leonard; Safwat,Amr M. E., Shielded probe with low contact resistance for testing a device under test.
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  33. Andrews, Peter; Hess, David, System for testing semiconductors.
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  34. Campbell, Richard, Test structure and probe for differential signals.
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  35. Campbell,Richard, Test structure and probe for differential signals.
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  36. Hayden, Leonard; Martin, John; Andrews, Mike, Wafer probe.
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  37. Hayden,Leonard; Martin,John; Andrews,Mike, Wafer probe.
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  38. Hayden,Leonard; Martin,John; Andrews,Mike, Wafer probe.
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  39. Hayden,Leonard; Martin,John; Andrews,Mike, Wafer probe.
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  40. Campbell, Richard, Wideband active-passive differential signal probe.
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