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Method and apparatus for offset error correction 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/46
출원번호 US-0016677 (1979-03-01)
발명자 / 주소
  • Whitely Robert M. (Dayton OH)
출원인 / 주소
  • NCR Corporation (Dayton OH 02)
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 15

초록

A method and apparatus for correction of null or zero reference offset error occurring in a measuring or transducing device by reason of temperature change, component ageing or other effects. A system including an appropriately programmed microcomputer, an analog-to-digital converter, a digital-to-a

대표청구항

Apparatus for compensating for drift from a null point of a measuring device comprising: comparison means for comparing a first signal from said measuring device with a derived second signal and for providing an output signal representative of the difference between said first and second signals; an

이 특허에 인용된 특허 (15)

  1. Fujikata Kenji (Hachioji JPX) Yokozawa Norio (Fuchu JPX) Shibayama Akinori (Tokyo JPX), Analog comparator.
  2. Thomas Dale C. (Ontario NY), Automatic compensating circuit.
  3. Fowler John T. (Winthrop MA), Calibration apparatus for automatic magnetic compass correction.
  4. Boshinski Edwin E. (Englewood OH) Meckstroth Robert C. (Dayton OH) Rogers Robert M. (Troy OH), Computing weighing scale.
  5. Rock Frank C. (Santa Rosa CA), Counting scale and method.
  6. Domis Emiel De Senerpont (San Jose CA) Cadwell Robert M. (San Jose CA), Digital weighing method.
  7. Gudea Dumitru D. (Chicago IL) Bryant Thomas L. (Forest Park IL) Chan Wan-On (Des Plaines IL), Electronic postage scale.
  8. Suzuki Seiji (Shizuoka JPX) Nishiyama Yoshihisa (Shizuoka JPX) Kitagawa Tohru (Mishima JPX), Electronic weight measuring device.
  9. Mueller Martin (Bickenbach DEX) Schoenfeld Harald (Darmstadt-Arheilgen DEX), Method and apparatus for monitoring and/or correcting of a physical characteristic.
  10. Rode France (Los Altos CA) Lindes Peter (Palo Alto CA) Eschenbach Ralph F. (Los Altos CA) Fazarinc Zvonko A. (Portola Valley CA), Method and apparatus for programmable and remote numeric control and calibration of electronic instrumentation.
  11. Sternberg Jacob (New York NY) Freund Robert W. (Brooklyn NY), Method and apparatus for recording a signature.
  12. Sternberg Jacob (New York NY) Freund Robert W. (Brooklyn NY), Method and apparatus for recording a signature.
  13. Engels ; Mathijs Maria Johannes, Weighing apparatus.
  14. Caldicott ; Jack Richard ; Edwards ; Alan David, Weight measuring system with automatic gain correction.
  15. Williams ; Jr. Roger B. (Sylvania OH) Loshbough Richard C. (Temperance MI), Zero indicator for plural scale systems.

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Bruckert, Edward; Conroy, David; Ellison, Richard; Minow, Martin, Analog signal verification circuit.
  2. Brauer Frank M. (Cincinnati OH), Apparatus for and method of compensating for variations due to aging.
  3. Hasebe,Takayuki; Kotani,Seigo; Akiyama,Ryota; Sasaki,Takaoki, Apparatus to create and/or verify digital signatures having a secure time element and an identifier of the apparatus.
  4. Lenderking Bruce N. (Glen Burnie MD) Couch Robert D. (New Freedom PA), Automatic temperature calibration method and apparatus.
  5. Veale John R. (Manhattan Beach CA), Control of page storage among three media using a single channel processor program and a page transfer bus.
  6. Asano Masaharu (Fujisawa JPX) Kawamura Yoshihisa (Yokosuka JPX) Nakagawa Toyoaki (Yokosuka JPX), Device and method for measuring a temperature difference.
  7. Sauler, Juergen; Torno, Oskar; Heinstein, Axel; Kluth, Carsten; Haeming, Werner, Device for error recognition in a digital signal evaluation unit.
  8. Asano Masaharu (Fujisawa JPX) Kawamura Yoshihisa (Yokosuka JPX) Nakamura Koyo (Yokosuka JPX), Device for measuring variable with automatic compensation for offset.
  9. Maruyama, Masayuki; Kozuki, Hiroyuki; Ikemoto, Katsuya, Electronic control device.
  10. Groe David E. (Oakwood Hills IL), Method and apparatus for emission testing.
  11. Vitunic Mark R. (Sunnyvale CA) Mergenthaler Barry M. (Cambridge OH) Amacher Gene L. (Cambridge OH), Method and apparatus for scale calibration and weighing.
  12. Amacher Gene L. (Cambridge OH) Mathes Gene R. (Zanesville OH) Paugstat John F. (Salesville OH) Mergenthaler Barry M. (Cambridge OH), Method for fast weighing.
  13. Wiggins, Gene D., Methods for scaling and calibrating predetermined signals.
  14. Takayuki Ueno JP; Shunya Senda JP, Neutral point voltage adjuster of torque sensor.
  15. Simison Paul C. (Phoenix AZ), Programmable digital hysteresis circuit.
  16. Galligan James J. (Joliet IL) Quinlan Harry W. (Frankfort IL) Hedden Steven J. (Morris IL), Reactor control system verification.
  17. Enter Rudolf (Kitchener CAX) Laverty Michael P. (Waterloo CAX), Self-adjusting sensor controller.
  18. Gross Chris (Yorktown VA), Self-correcting electronically scanned pressure sensor.
  19. Martinsons Robert (Chicago IL), Self-correcting throttle position sensing circuit.
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