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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0860754 (1977-12-15) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 1 |
A sampling probe is disclosed for obtaining a sample of granular material from a bulk quantity of such material to facilitate inspection of the sample. The probe includes a sampling tube assembly operative to receive a granular sample therein when inserted into a bulk quantity of grain or the like,
A sampling probe for obtaining a sample of granular material from a bulk quantity of such material, said probe comprising, sampling tube means including an elongate sampling tube adapted to be inserted into a bulk quantity of granular material, means operatively associated with said elongate samplin
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