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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0223559 (1981-01-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 30 인용 특허 : 1 |
In an analyzer of the kind in which a reflectometer contacts a test element during scanning of the element, means are provided for moving test elements to and from the reflectometer in a manner avoiding significant contact wear of the reflectometer.
In an analyzer for measuring an analyte in a liquid by scanning a test element containing the liquid, said analyzer including a reflectometer having a face adapted to contact a test element during scanning and means for biasing the test element and said reflectometer face into contact with each othe
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