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Apparatus and method for determining the configuration of a reflective surface 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-009/02
출원번호 US-0043442 (1979-05-29)
발명자 / 주소
  • Corwin Richard R. (Xenia OH) Moorman Stephen L. (Miamisburg OH)
출원인 / 주소
  • Beta Industries, Inc. (Dayton OH 02)
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 3

초록

Disclosed is a system for the precision, high speed, non-contacting measurement of the shapes of reflective surfaces. This system consists of multiple laser fringe pattern transmitters, a random access image dissector camera or receiver, and a computer analysis system. Three laser transmitters proje

대표청구항

Apparatus adapted for determining the contour of a light reflecting surface, comprising laser transmitter means for producing a light beam, means for expanding the beam and for projecting at least one fringe pattern onto the surface with the pattern moving in a predetermined direction and at a prede

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Himmel David P. (Dallas TX), Laser measuring system for inspection.
  2. Holly Sandor (Falls Church VA), Process and apparatus for sensing defects on a smooth surface.
  3. Ramsey ; Jr. Stevens David (Palo Alto CA), Surface deformation gauging system by moire interferometry.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Goldstein, Richard M.; Caro, Edward R.; Wu, Chialin, Method and apparatus for contour mapping using synthetic aperture radar.
  2. Mihelcic,Joe, Method and system for complete 3D object and area digitizing.
  3. Hwang, Wontae; Jammu, Vinay Bhaskar; Karp, Jason Harris; Sakami, Mohamed; Challener, William Albert, Optical monitoring system for a gas turbine engine.
  4. Penney Carl M. (Schenectady NY), Precision remote location of a movable point employing light interference fringes.
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