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Triaxis laser alignment system and method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-009/02
  • G01B-011/27
출원번호 US-0200003 (1980-10-23)
발명자 / 주소
  • Miller John M. (Huntington Station NY)
출원인 / 주소
  • Grumman Aerospace Corporation (Bethpage NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 1

초록

A system and method of determining the angular displacement of one or more members is disclosed. A reference laser beam is diffracted, reflected and impacted upon a face of a display as a light pattern in which the pattern spacing is representative of a determinable angular displacement relative to

대표청구항

A method of determing the angular displacement of one or more members relative to a reference plane, said method comprising the steps of: generating reference lines on a target representative of the reference plane diffracting a beam of coherent light from the reference plane through the target by p

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Remijan Paul W. (425 Park Ave. Rochester NY 14607), Optical apparatus and method for producing the same.

이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Glogowski Stefan W. (Detroit MI), Automatic tack-off machine.
  2. Brien J. Housand ; Gene D. Tener ; Susan J. Jesse ; William A. Pearson ; G. Edward Newberg ; John F. Weaver ; Timothy A. Hill ; Helmuth Bauer ; Bhikhubbai L. Patel ; Ward D. Robertson ; Joh, Combined laser/FLIR optics system.
  3. Sun, Ke Xun; Byer, Robert L., Grating angle magnification enhanced angular sensor and scanner.
  4. Hollander, Milton Bernard, Laser instrument.
  5. Hollander,Milton Bernard, Laser instrument.
  6. Milton Bernard Hollander, Laser sighting beam modification for measuring or treatment instrument.
  7. Hollander, Milton Bernard; McKinley, William Earl, Laser thermometer.
  8. Hollander Milton Bernard ; McKinley William Earl, Method and apparatus for measuring temperature including aiming light.
  9. Hollander Milton B. ; McKinley W. Earl, Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques.
  10. Hollander, Milton Bernard; McKinley, William Earl, Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques.
  11. Mehrl, David J.; Pan, Kun; Lee, Benjamin L., Method and apparatus for using spatial patterns for measuring mirror tilt angles in digital mirror devices.
  12. Miller John M. (Huntington Station NY) Barton Richard O. (Levittown NY) Bergin Michael T. (Bayside NY), Multi-axis alignment apparatus.
  13. Kelley, Gary Wayne, Partial automated alignment and integration system.
  14. Milton B. Hollander ; W. Earl McKinley, Pulsed laser thermometer.
  15. Gotz,Meinrad; Zahn,Patrick; Derr,Andreas; Rosenstiel,Herbert; Haury,Uwe; Schworer,Wolfgang; Richter,Axel; Baecke,Martin, Radiometer, sighting device for a radiometer and method therefor.
  16. Caimi Frank M. (Vero Beach FL), Structured illumination surface profiling and ranging systems and methods.
  17. Schiff Tod F. (Bozeman MT) Cheever Daniel R. (Bozeman MT) Wilson Daniel J. (Bozeman MT), System and method for measuring angular position.
  18. Tobiason,Joseph D; Sesko,David W; Jones,Benjamin K; Milvich,Michelle M; Venkatachalam,Vidya, Systems and methods for tilt and range measurement.
  19. Chang,Shih Tzung; Lin,Yu Ku; Lin,Shih Ho; Chen,Kei Wei; Wang,Ting Chun; Su,Ching Hwan; Wang,Ying Lang, Test device and method for laser alignment calibration.
  20. Lippuner,Heinz, Tilt sensor.
  21. Conrad Raymond W. (Russellville AL), Wide field-of-view laser spot tracker.
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