최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0129637 (1980-03-12) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 1 |
A driver circuit for use in testing either ECL (emitter-coupled logic) or TTL (transistor-transistor logic) devices. The circuit has a pair of variable reference voltages (VH,VL) for determining the logic levels 0 and 1. The circuit also has two termination networks (8,9) for ECL and TTL, which are
A driver circuit for automatic digital testing apparatus, comprising a switching circuit; a first signal input terminal by which a control signal may be applied to the switching circuit to cause the latter to adopt a related switching state, the switching circuit having a line terminating at a termi
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.