[특허]Microwave interferometer

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[미국특허] Microwave interferometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-027/04
출원번호	US-0196113 (1980-10-10)
우선권정보	GB-0038552 (1979-11-07)
발명자 / 주소	Chivers John W. H. (Duffield GB2)
출원인 / 주소	Rolls-Royce Limited (London GB2 03)
인용정보	피인용 횟수 : 11 인용 특허 : 3

초록 ▼

A microwave interferometer comprising a source of microwave energy the output of which is equally divided between an antenna and a short circuit. The antenna is adapted for the transmission of microwave energy to and the subsequent reception of reflected microwave energy from an object in close proximity to the antenna. The phase difference between the microwave radiation reflected from the short circuit and the object is directly proportional to the distance between the antenna and the object.

대표청구항 ▼

Apparatus for measuring distance, comprising: a source of microwave energy; a first waveguide terminated in a short circuit; a second waveguide having a length and a cross-sectional area equal to the length and cross-sectional area, respectively, of the first waveguide and positioned substantially adjacent to said first waveguide; means for dividing energy from said source equally between said first and second waveguides; an antenna coupled to said second waveguide, tapered so as to terminate in an aperture of smaller cross-section area than that of the first and second waveguides for transmitting microwave energy to an object to be measured and receiving therefrom microwave energy reflected thereby; and means for detecting a phase difference between microwave energy reflected from said object and microwave energy reflected from said short circuit and providing an output signal proportional to said phase difference, the phase difference being related to the distance between said antenna and said object.

이 특허에 인용된 특허 (3) 인용/피인용 타임라인 분석

Bastida Ezio M. (Milan ITX), Instrument for measuring moisture in materials.
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Yu Se Puan (Schenectady NY) Glover Gary H. (Schenectady NY), Microwave proximity detector.
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Kennedy ; Jr. ; Thomas A. ; McCombe ; Bruce D., Technique for contactless characterization of semiconducting material and device structures.
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이 특허를 인용한 특허 (11) 인용/피인용 타임라인 분석

Bosselmann, Thomas; Willsch, Michael, Device for determining the distance between a rotor blade and a wall of a turbine engine surrounding the rotor blade.
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Trummer, Guenther; Gehring, Ralf, Distance measuring apparatus and method for calculating a distance in a conducting structure.
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Trummer, Guenther; Gehring, Ralf, Distance measuring apparatus and method for calculating a distance in a conducting structure.
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Steinwandel, Juergen; Stuhlberger, Johannes, High frequency-stabilized combustion in aircraft gas turbines.
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Leogrande, John A.; Jalbert, Peter L., Instrument port seal for RF measurement.
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Vandorpe John (Zulte BEX), Measurement of the position of an elongated element.
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Damon Edward K. (Columbus OH), Microwave proximity sensor.
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Grzybowski Richard R. ; Meltz Gerald, Microwave recess distance and air-path clearance sensor.
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Jonathan Geisheimer ; Gene Greneker ; Scott Billington, Phase-based sensing system.
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Beukema, Troy J.; Reynolds, Scott K., Receiver and integrated AM-FM/IQ demodulators for gigabit-rate data detection.
상세보기
Holmquist, Eric B.; Jalbert, Peter L.; Versailles, Richard E., System to measure time of arrival and thickness of rotor blades via microwave energy.
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IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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