$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Apparatus for determining the parameters of figures on a surface 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04N-007/18
출원번호 US-0335097 (1981-12-28)
발명자 / 주소
  • Kosmowski, Wojciech
  • Eddy, Richard
  • O'Neill, Martin
출원인 / 주소
  • Cooper Industries, Inc.
대리인 / 주소
    Spensley, Horn, Jubas & Lubitz
인용정보 피인용 횟수 : 23  인용 특허 : 5

초록

The disclosed apparatus determines the parameters, such as size, shape, and position, of figures on a surface. It includes a camera means generating a video signal. A table assembly adjusts the position of the camera and surface on the table with respect to each other as specified by position signal

대표청구항

1. An inspection apparatus for determining parameters of a generally circular figure on a surface, comprising: camera means for generating a video signal representative of the field of view before said camera means; table means for supporting said camera means and said surface in an adjustable s

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Schure Alexander (Old Westbury NY) Catmull Edwin (Glen Cove NY) Smith Alvy R. (Brookville NY), Apparatus and method for automatic coloration and/or shading of images.
  2. Eiselen Everett Truman (Los Gatos CA), Apparatus for image manipulation.
  3. Karlson Karl (Fishkill NY), Object positioning process and apparatus.
  4. Sukonick ; Josef S. ; Tilden ; Greg J., Raster scan display apparatus for dynamically viewing image elements stored in a random access memory array.
  5. Lemelson Jerome H. (85 Rector St. Metuchen NJ 08841), Scanning apparatus and method.

이 특허를 인용한 특허 (23)

  1. West Geoffrey A. W. (London GB2) Hill Walter J. (London GB2), Apparatus and methods for coding and storing raster scan images.
  2. Fisher, William D.; Martins, Henrique A. S.; Webb, Peter G., Apparatus for deposition and inspection of chemical and biological fluids.
  3. Yotsuya Teruhisa (Kyoto JPX), Apparatus for inspecting packaged electronic device.
  4. Yotsuya Teruhisa (Kyoto JPX), Apparatus for inspecting packaged electronic device.
  5. Broadbent, Jr., William H.; Buchholz, Steve; Eldredge, Peter; Wihl, Mark J., Automatic system and method for inspecting hole quality.
  6. West Geoffrey A. W. (London GB2) Norton-Wayne Leonard (Glenfield GB2), Detection apparatus.
  7. Ekdahl Michael S. ; Hanks John Thomas ; Hiller Kirk Brenden ; LaChapelle Joseph G. ; Thomas Kirk Vaughn ; Turley Mark S., Fastener verification system.
  8. Fridge David A. (Glendale CA), High speed optical inspection system.
  9. White Steven J. (Seattle WA), High speed scanning method and apparatus.
  10. Ninomiya Takafumi,JPX, Hole-size measuring system for CRT black matrix layer.
  11. Preysman Vladimir (Santa Clara CA), Hub hole characterization system.
  12. Bedros Renee (West St. Paul MN) Schnell Robert J. (Brooklyn Center MN), Image recognition template generation.
  13. Amir Israel (Trenton NJ) Balchunas William C. (Mendham NJ) Higgins Frank P. (Trenton NJ), Linescan inspection system for circuit boards.
  14. Kalnajs Andrejs K. ; Burt Robert G., Machine vision image data acquisition system.
  15. Amir Israel (Ewing NJ) Higgins Frank P. (Ewing NJ), Method and apparatus for inspection of substrates.
  16. White Steven J. (Seattle WA), Method and apparatus for locating center of reference pulse in a measurement system.
  17. Rosen Dennis (London GB2) Lee John W. (London GB2), Method and apparatus for use in measurement of the position of a line or edge of an object.
  18. Troukens, Theo; Mattelin, Antoon, Method for adjusting a reference signal for a laser device operating in a giant pulse mode.
  19. Cohen Edward (Lancaster PA) Weaver ; Jr. Clarence M. (Reamstown PA) Duschl Robert A. (Lancaster PA), Method for detecting blemishes near the perimeter of a CCD image.
  20. Shahbazi, Majid; Shahbazi, Mahmood, Methods and apparatus related to sensor signal sniffing and/or analysis.
  21. Anderson Charles H., Non-invasive inspection platen.
  22. Hoki Tetsuo (Kyoto JPX) Sano Tetsuo (Kyoto JPX) Kitakado Ryuji (Kyoto JPX) Sezaki Yoshinori (Itami JPX) Hotta Tomiji (Kyoto JPX) Yano Hironobu (Kyoto JPX), Pattern masking method and an apparatus therefor.
  23. Toyoda, Yasutaka; Sutani, Takumichi; Matsuoka, Ryoichi, Pattern matching apparatus and semiconductor inspection system using the same.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로