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[미국특허] Automatic circuit identifier 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-011/22
출원번호 US-0234686 (1981-02-17)
발명자 / 주소
  • Steiner, William G.
출원인 / 주소
  • Lockheed Corporation
대리인 / 주소
    Sullivan, John J.
인용정보 피인용 횟수 : 14  인용 특허 : 10

초록

A hand held apparatus for automatically identifying a hybrid or monolithic integrated circuit or any standard circuit module having a known pin configuration (10) and an unknown identity. A plurality of test instructions (FIG. 6 ) for devices of known identity are stored in a test procedure memory (

대표청구항

1. Apparatus for identifying a circuit having a known pin configuration and an unknown transfer characteristic among said pin configuration comprising: a socket comprising a plurality of receptacles for holding said pin configuration; bidirectional port means electrically connected to said socket

이 특허에 인용된 특허 (10) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Winkler Dean A. (R.R. #4 ; Box 268 Loogootee IN 47553), Analog and digital circuit tester.
  2. Steiner William G. (Marietta GA), Automatic circuit tester with improved voltage regulator.
  3. Drabing ; Richard B. ; Lam ; Tim Y. ; Hoard ; Charles Q., Automatic tester for microprocessor board.
  4. Harms ; Arie A. ; Wark ; Johan G., Carrier with code.
  5. Fulks Robert G. (Phoenix AZ) Enfield Robert E. (Phoenix AZ) Greenwood Edward H. (Phoenix AZ), Method and apparatus for transmitting data to a predefined destination bus.
  6. Koegel Robert J. (Glendale AZ) Lange Ronald E. (Phoenix AZ) Davis Terry L. (Phoenix AZ), Microprocessor based maintenance system.
  7. Munter Ernst A. (Ottawa CAX), Modular communication system having self-identifying modules.
  8. Eivers Donald J. (Massapequa NY) Kovacs Eddie J. (Kings Park NY), Multiple matrix switching system.
  9. Niemaszyk ; Casimer ; Rothenberg ; Peter, Portable circuit tester.
  10. Masters Harvey M. (Ellicott City MD), Programmable test point selector circuit.

이 특허를 인용한 특허 (14) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Voshell Thomas W. ; Davis Lisa J., Apparatus and method for identifying an integrated device.
  2. Zaleski James V. (1631 Paterna Rd. Santa Barbara CA 93103), Apparatus for testing auto electronics systems.
  3. Biggio Alain (Limonest FRX) Landrevie Jacques (La Chambre FRX), Automatic connecting device designed for the quick and momentary supply of power to electronic circuits.
  4. Kawanishi, Yuuji; Uchino, Yoshiaki, Carrier identification system, carrier identification method and storage media.
  5. Titherley Robert H. (Weybridge GB2), Computer peripheral testing equipment.
  6. Ehlig Peter N., Devices and systems with protective terminal configuration, and methods.
  7. Hori, Yoshihiko, Driver of display unit.
  8. Davis Gregory A. (Chandler AZ) Spangler Harold L. (Chandler AZ), Integrated circuit option identification circuit and method.
  9. Wallquist,Kenneth Michael, MCU test device for multiple integrated circuit chips.
  10. David Resnick, Method and apparatus for partial-scan built-in self test logic.
  11. Graf Matthew C. (Highland NY) Muhlfeld ; Jr. Hans P. (Highland NY) Valentine Edward H. (Wappingers Falls NY), Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations.
  12. Price, Robert J.; Brown, Bryan D., System for customizing responsiveness of a machine.
  13. Price,Robert J.; Brown,Bryan D., System for customizing responsiveness of a work machine.
  14. Sagnard Francois-Regis (Paris FRX) Ruelle Claude (Linas FRX), System for the automatic testing of printed circuits.

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