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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0141698 (1980-04-18) |
우선권정보 | DE-2915986 (1979-04-20) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 2 |
A method and apparatus for continuous measurement, by X-ray fluorescence analysis, of the elemental content of a slurry, independently of slurry density and slurry composition. The slurry, a source of primary radiation, a target, and a detector are arranged so that the slurry passes between the sour
A process for the continuous measurement, by X-ray fluorescence analysis, of the element content of a slurry, independently of the slurry density and slurry composition comprising: (a) passing a sample of the slurry to be measured between an excitation source of primary radiation and a detector, wit
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