최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0163290 (1980-06-26) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 25 인용 특허 : 4 |
A method and apparatus are provided for analyzing the light pattern produced on a photodetector array. The signal produced by the array is filtered with a low pass filter and the output of the filter is differentiated to obtain either the first or second derivative of the filtered signal for one or
Method for analyzing a light pattern produced on a photo detector array, comprising the steps of: filtering the signal from said photodetector array with a low pass filter, differentiating the output of the low pass filter to obtain a derivative of said filtered signal at at least one point in said
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.