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Electric micrometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-003/18
출원번호 US-0297500 (1981-08-28)
우선권정보 JP-0126326 (1980-09-05)
발명자 / 주소
  • Takemura Takehide (Hirakata JPX) Yamada Hiroshi (Hirakata JPX)
출원인 / 주소
  • Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (Kadoma JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 1

초록

An electric micrometer with a U-shaped frame has a contact-type rotary encoder comprising a disk which has conductor patterns thereon, and a rotary brush holder which holds rotary brush contacts. The rotary brush holder is rotated by rotation of a spindle. A coupler connects a sleeve journaled to th

대표청구항

An electric micrometer comprising: a U-shaped frame having first and second arms, an anvil held by a first arm of said frame, a spindle screw-movably held by said second arm of said frame, a sleeve rotatably held by said second arm in such a manner to be rotated coaxially with said spindle without a

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Nakata Kiyohiro (Kure JPX) Suwa Hiroaki (Kure JPX), Electrically digital display micrometer.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Patel, Rajan; Klimowicz, Michael A., Devices and methods for nebulizing fluids for inhalation.
  2. Patel,Rajan; Klimowicz,Michael A., Devices and methods for nebulizing fluids for inhalation.
  3. Hayashida, Shuji; Tachikake, Masahiko; Fujikawa, Yuji, Digital displacement measuring instrument.
  4. Sasaki Kohji (Kanagawa JPX) Arai Yoshihiro (Kanagawa JPX) Yamaguchi Yasuyuki (Kanagawa JPX) Matsumoto Toshiyuki (Kanagawa JPX), Digital display measuring apparatus.
  5. Atherton, Kim W., Ergonomic micrometer including two modes of adjustment.
  6. Sørensen, Kim Sveinsson; Kristensen, Kim, Method and test tool for adjusting brush holders in slip ring systems.
  7. Kuroda Takeshi (Kure JPX), Sliding displacement detecting apparatus.
  8. Wachtler William R. (Solana Beach CA), Temperature-compensated quantitative dimensional measurement device with rapid temperature sensing and compensation.
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