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Shape detecting apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04N-007/18
출원번호 US-0286068 (1981-07-23)
우선권정보 JP-0099979 (1980-07-23); JP-0140611 (1980-10-09)
발명자 / 주소
  • Nakagawa Yasuo (Yokohama JPX) Makihira Hiroshi (Yokohama JPX) Ikeda Souhei (Hadano JPX) Ezaki Satoru (Hadano JPX) Harada Osamu (Odawara JPX)
출원인 / 주소
  • Hitachi, Ltd. (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 34  인용 특허 : 5

초록

Disclosed is a shape detecting apparatus comprising a slit projector for projecting a slit bright line on a number of objects arrayed in a line, an image forming lens for forming the bright line image, an image scanning mechanism for the bright line image formed through the image forming lens in a h

대표청구항

A shape detecting apparatus comprising: a slit projector for projecting a slit-like bright line on a plurality of objects arranged in a line; an image forming lens for forming a bright line image from said slit-like bright line; image scanning means for scanning the bright line image obtained throug

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Paranjpe ; Suresh C. ; Burnett ; James E., Jet drop copying apparatus.
  2. Chasson Leon H. (Los Altos Hills CA), Method and apparatus for automatically processing a workpiece employing calibrated scanning.
  3. Yokoshima Naohiko (Hirakata JPX) Isoya Toshisuke (Hirakata JPX) Mishiro Masayuki (Hirakata JPX), Method of detecting weld lines.
  4. Rossol ; Lothar ; Olsztyn ; Joseph T. ; Dewar ; Robert ; Holland ; Steve n W., Optical object locator.
  5. Westby Ola (Nordosletta NO), Procedure and apparatus for determining the geometrical shape of a surface.

이 특허를 인용한 특허 (34)

  1. Grammerstorff Michael (Aidlingen DEX) Pietruschka Hans (Rottenburg DEX), Apparatus for automatic optical property testing.
  2. Christian Donald J. (Richardson TX) Stachowicz Michael J. (Carrollton TX), Apparatus for automatically inspecting electrical connecting pins.
  3. Tanaka Hideyuki,JPX ; Sano Yasukazu,JPX ; Tanigawa Taichi,JPX, Apparatus for detecting occupant's posture.
  4. Mattila Timo (Kausala FIX), Apparatus for identifying and recording bottles and/or bottle hampers.
  5. Scola, Joseph; Jacobson, Lowell, Boundary analyzer.
  6. Tanaka Hideyuki,JPX ; Sano Yasukazu,JPX ; Tanigawa Taichi,JPX, Control method for inflating air bag for an automobile.
  7. Sussman Michael, Depth from focal gradient analysis using object texture removal by albedo normalization.
  8. Sissom Bradley ; Sussman Michael, Depth-from-defocus optical apparatus with invariance to surface reflectance properties.
  9. Aaron S. Wallack, Determining a depth.
  10. Wallack Aaron S., Determining a depth.
  11. Wallack Aaron S., Determining a depth.
  12. Sanderson Arthur C. (Williamstown MA) Weiss Lee E. (Pittsburgh PA) Nayar Shree K. (Pittsburgh PA), Fiber optic solder joint inspection system.
  13. Harding Kevin G. (Ann Arbor MI), High accuracy structured light profiler.
  14. Mutch, William R.; Fiore, Thomas F.; Porras, Randall A.; Thompson, Chester O. D., High security key scanning system.
  15. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R.; Porras, Randall A., Key blank identification system with bitting analysis.
  16. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R., Key blank identification system with groove scanning.
  17. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R., Key blank identification system with groove scanning.
  18. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  19. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  20. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  21. Mutch, William R.; Porras, Randall A.; Fiore, Thomas F., Key duplication machine.
  22. Mutch, William R.; Porras, Randall A.; Fiore, Thomas F., Key duplication machine.
  23. John S. Titus ; John E. Bolkcom, Key measurement apparatus and method.
  24. McLean Jean A. (So. Hamilton MA) Duncan Robert J. (Magnolia MA), Lead sense system for component insertion machine.
  25. Sato Yukio (Wakamizu-Jutaku #1-45 2-2-8,Wakamizu ; Chikusa-ku ; Nagoya-shi JPX) Araki Kazuo (Chayagasakakoen Heights #B-211 ; 1-23-1 ; Ageha-cho ; Chikusa-ku ; Nagoya-shi Aichi JPX), Method and apparatus for measuring profile of three-dimensional object.
  26. Ishizaki, Yuusuke, Method and device for driving rotating-body, process cartridge, image forming apparatus, and computer program product.
  27. Cruickshank John S. (Inchture GB6), Profile imaging techniques.
  28. Cruickshank John S. (Inchture GBX), Projection apparatus.
  29. Liu,Ying Chung, Screw auto-detection and selection device.
  30. Nayar Shree K. (Pittsburgh PA) Sanderson Arthur C. (Williamstown MA) Weiss Lee E. (Pittsburgh PA) Simon David A. (Pittsburgh PA), Solder joint inspection system and method.
  31. Crabb Robert M. (Endicott NY) DeFoster Steven M. (Binghamton NY) Rittenhouse Norman E. (Endicott NY) West Mark A. (Binghamton NY) Ziegler Richard A. (Vestal NY), System for measuring and detecting printed circuit wiring defects.
  32. Sussman Michael, System for obtaining a uniform illumination reflectance image during periodic structured illumination.
  33. Sussman Michael, Warping of focal images to correct correspondence error.
  34. Ando Moritoshi (Atsugi JPX) Oka Hiroshi (Atsugi JPX) Iwata Satoshi (Atsugi JPX), Wiring pattern detection method and apparatus.
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