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Optical system for analyzing the surface of a fibrous web 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/86
출원번호 US-0367686 (1982-04-12)
발명자 / 주소
  • Cielo Paolo G. (Montreal CAX)
출원인 / 주소
  • Canadian Patents & Development Limited (Ottawa CAX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 6

초록

The apparatus for analyzing the surface of a fibrous web, such as a paper or a textile, includes a prism structure in which one surface is placed in contact with the fibrous web under a predetermined pressure. A collimated beam of light is directed into the prism on the contact surface. The light re

대표청구항

Apparatus for analysing the surface of a fibrous web comprising: a prism having first and second refractive surface and a back surface, one refractive surface being adapted to be in contact with the fibrous web under a predetermined pressure; a light source means; a first radially graded-index lens

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Daniel Maurice (1733 19th St. ; N.W. Washington DC 20009), Apparatus for collecting, distributing and utilizing solar radiation.
  2. Jensen Niels P. (Los Angeles CA) Kasdan Harvey L. (Van Nuys CA) Thomasson James T. (Sunland CA), Electro-optical method and apparatus for making identifications.
  3. Lucas John M. (Montreal CAX), Graininess sensor.
  4. Lucas John M. (Montreal CA) Gracovetsky Serge (St. Lambert CA), Measuring the surface roughness of a moving sheet material.
  5. Blonder Alain (Lyons FRX), Method and apparatus for performing a comparison of given patterns, in particular fingerprints.
  6. Lucas John M. (4816 Hutchison St. Montreal CAX) Gracovetsky Serge (209 du Dauphine St. Lambert ; both of Quebec CAX), Sensor contact.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Popp Robert Lee (Hortonville WI) Barlament Michael Lee (Appleton WI) Primeau Larry Dean (DePere WI), Apparatus and methods for selectively controlling a spray of liquid to form a distinct pattern.
  2. Stein, Dieter; Wunderer, Bernd, Apparatus for examining documents.
  3. Uchida,Shinji; Oshima,Kiyoko; Shioi,Masahiko, Apparatus for measuring biological information and method for measuring biological information.
  4. Clare Timothy P. (Appleton WI) Kollitz William R. (Oshkosh WI) Mikula Matthew J. (Appleton WI), Apparatus for spraying adhesive.
  5. Abrams, Carl E.; Connell, II, Jonathan H.; Ratha, Nalini K., Display device including a display screen with integrated imaging and a method of using same.
  6. Cox, James A.; Chen, Bo Su, High speed optical system.
  7. Avikainen, Marko; Niemi, Petri; Kettunen, Heikki; Mäntylä, Markku; Keränen, Heimo, Measuring of web.
  8. Bolton Joseph A. (Queensbury NY) Harbaugh Steven K. (Castro Valley CA), Method and apparatus for analyzing the formation of a web of material via generating a formation index.
  9. Ungpiyakul Tanakon (Neenah WI) Morgan Arch D. (Neenah WI) Thomas Douglas C. (Neenah WI) Ketenhofen Timothy J. (Appleton WI) Marver Douglas J. (Mosinee WI) Couture-Dorschner Laurie (Hortonville WI) Po, Method and apparatus for detecting the placement of components on absorbent articles.
  10. Clare Timothy Patrick ; Kollitz William Richard ; Mikula Matthew John, Method for spraying adhesive.
  11. Calvert, Mickey, Methods and systems for making disposable absorbent article having graphics.
  12. Cox,James A.; Chen,Bo Su, Methods for signal transmission in optical fiber.
  13. Rizvi Syed A., Mid-infrared analysis system.
  14. Hirae Sadao (Kyoto JPX) Matsubara Hideaki (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Sakai Takamasa (Kyoto JPX), Non-destructive measuring sensor for semiconductor wafer and method of manufacturing the same.
  15. Chu Youe-Tsyr ; Yankey Joseph M. ; Reynolds Michael H. ; Oxley Ian F. ; Weidmann Stefan ; Ghorashi Hossein M., On-line sliver monitor.
  16. Chen,Bo Su, Optical system with reduced back reflection.
  17. Hatwar Tukaram K. ; Tyan Yuan-Sheng ; Olin George R., Recordable optical disks with metallic interlayer.
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