[특허]Fault detection apparatus for material webs

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IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01N-021/88
출원번호	US-0563601 (1983-12-20)
우선권정보	DE-3006072 (1980-02-19)
발명자 / 주소	Rss Dieter (Planegg DEX) Ostertag Klaus (Munich DEX)
출원인 / 주소	Erwin Sick GmbH Optik-Elektronik (Waldkirch DEX 03)
인용정보	피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 2

초록 ▼

Fault detection apparatus for material webs comprising a light transmitting device for generating a line of light on the material web and an elongate light receiving device which extends parallel to the line of light and is so arranged that it can receive light which enters a predetermined reception plane from the line of light, with the predetermined reception plane lying at a specified angle to the plane normal to the material web and containing the line of light, and with the line of light being formed by a bead of light which scans the web point by point, line by line. The light receiving device (43) comprises a plurality of light receivers (1 to 30) which can be selectively switched in, with at least one of the light receivers being switched out at each particular instant.

대표청구항 ▼

Fault detection apparatus for material webs comprising: a light scanning device for directing a bead of light along an imaginary line on the surface of a web to effect line scanning thereof, said web having a width; and an elongate light receiving device disposed to receive light leaving said line within a reception plane containing said line and said light receiving device; said light receiving device comprising: a linear array of individual light receivers, means for selectively switching said light receivers on or off in dependence on the position of said light bead along said line and for switching off at least one of said light receivers at each particular instant, said light receivers generating signals in response to incident light, and means connecting said receivers to a processing circuit for processing said signals.

이 특허에 인용된 특허 (2)

Kasdan ; Harvey Lee ; Mead ; Donald Carleton, Diffraction pattern amplitude analysis for use in fabric inspection.
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Sick Erwin (Icking DEX), Optical apparatus for determining the light exit angle from a material strip illuminated by a light bead.
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이 특허를 인용한 특허 (9)

Bevis,Christopher F.; Shortt,David W., Darkfield inspection system having photodetector array.
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Johnson Carl E. A. (Merrimack NH) Ormsby Jay L. (Salem NH) Chase Eric T. (Andover MA) Quackenbos George S. (Neburyport MA) Broude Sergey V. (Acton MA) Bou dour Abdu (West Newton MA), Inspection apparatus and method for detecting flaws on a diffractive surface.
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Bolton Joseph A. (Queensbury NY) Harbaugh Steven K. (Castro Valley CA), Method and apparatus for analyzing the formation of a web of material via generating a formation index.
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Duran ; Jr. Michael J. (Lancaster PA), Motion tracking device.
상세보기
Duran ; Jr. Michael J. (Lancaster County PA), Motion tracking system and method.
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Cadet, Gardy; Lubecke, Victor M., Sol-gel tube crack detection apparatus and method.
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Nakamura Hisato,JPX ; Morishige Yoshio,JPX ; Watanabe Tetsuya,JPX, Surface defect inspection device and shading correction method therefor.
상세보기
Mapoles,Evan R.; Chen,Grace H.; Bevis,Christopher F.; Shortt,David W., Surface inspection system and method for using photo detector array to detect defects in inspection surface.
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Mapoles,Evan R.; Chen,Grace H.; Bevis,Christopher F.; Shortt,David W., System and method for conducting adaptive fourier filtering to detect defects in dense logic areas of an inspection surface.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

KIPRIS 원문보기

IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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내보내기 구분	파일저장 인쇄 메일전송
구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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