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Apparatus for continuously measuring the degree of milling of grains 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/47
  • G01N-021/13
출원번호 US-0486808 (1983-04-19)
우선권정보 JP-0094063 (1982-06-03); JP-0116175 (1982-07-06)
발명자 / 주소
  • Satake, Toshihiko
  • Hosaka, Yukio
출원인 / 주소
  • Satake Engineering Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Wegner & Brestchneider
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 1

초록

An apparatus for continuously measuring the degree of milling of rice grains wherein there is provided a grain passage unit, one wall of which is positioned angularly so that the grains in contact therewith slide down with their lengthwise axes generally parallel to this wall and another wall of whi

대표청구항

1. An apparatus for continuously measuring the degree of milling of grains comprising a light source unit directing light to be reflected by and transmitted through the grains, a grain passage unit disposed in the path of said light and having a first wall disposed at the near side from said lig

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Babb Raymond E. (Fremont CA), Automatic calibration control for color grading apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Satake Toshihiko (Higashihiroshima JPX), Apparatus for evaluating the quality of rice grains.
  2. Kevin J. Carney ; John S. Brown, Constituent sensing system.
  3. Mayes David M., Grain quality monitor.
  4. Canty, Thomas M.; O'Brien, Paul J.; Marks, Christian P.; Owen, Richard E., Granular product inspection device.
  5. Erich R. Gross ; Anthony S. Lee, Integrated optics probe for spectral analysis.
  6. Marbach, Ralf, Optical analyzer, optical analyzing method and sample preparation device.
  7. Butner Cyrus L. (Arlington VA), Optical multiple sample vacuum integrating sphere.
  8. Maczura, Anthony K.; Gross, Erich R.; Lee, Anthony S.; Mayes, David M., Optical probes and methods for spectral analysis.
  9. Von Rosenberg, Charles W., Optical probes and methods for spectral analysis.
  10. Marxer,Norbert; Gross,Kenneth P.; Altendorfer,Hubert; Kren,George, Process and assembly for non-destructive surface inspections.
  11. Vaez Iravani,Mehdi; Stokowski,Stanley; Zhao,Guoheng, Sample inspection system.
  12. Vaez Iravani,Mehdi; Stokowski,Stanley; Zhao,Guoheng, Sample inspection system.
  13. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  14. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  15. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  16. Vaez-Iravani, Mehdi; Stokowski, Stanley; Zhao, Guoheng, Sample inspection system.
  17. Biellak,Steve; Stokowski,Stanley E.; Vaez Iravani,Mehdi, Systems and methods for a wafer inspection system using multiple angles and multiple wavelength illumination.
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