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Correlation detecting device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06G-007/19
  • G06J-001/00
출원번호 US-0452876 (1982-12-27)
우선권정보 JP-0001490 (1982-01-07)
발명자 / 주소
  • Kawabata, Takashi
출원인 / 주소
  • Canon Kabushiki Kaisha
대리인 / 주소
    Toren, McGeady, Stanger, Goldberg & Kiel
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 5

초록

The present invention relates to a correlation detecting device which has an analog shift register consisting of a pair of minor loops, a difference detection circuit to form signals for difference between corresponding bits thereof, and a major analog shift register to add differential outputs with

대표청구항

1. An image signal processing device used in an image correlation detecting device comprising: first and second analog shift registers for respectively retaining and shifting signals as an image of an object, said first and second analog shift registers forming respectively closed loops to shift

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Martinson Lloyd W. (Haddonfield NJ), Correlator/convolver using a second shift register to rotate sample values.
  2. Masunaga Makoto (Tokyo JPX) Kinoshita Takao (Tokyo JPX) Sakane Toshio (Yokohama JPX) Tsunekawa Tokuichi (Yokohama JPX) Hosoe Kazuya (Machida JPX) Amikura Takashi (Tokyo JPX) Harigaya Isao (Yokohama J, Distance detecting device and a focus control system utilizing the same.
  3. Pentecost Eugene E. (Anaheim CA), Integrated automatic ranging device for optical instruments.
  4. Freeman Jacob J. (Silver Spring MD), Method of obtaining correlation between certain selected samples of a sequence.
  5. Chambers Ramon P. (Clearwater FL) Mosley ; Jr. William H. (St. Petersburg FL), Transversal correlator.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Frazier James F. (Pacific Palisade CA) Otto Oberdan W. (Culver City CA) Pasiecznik ; Jr. John (Malibu CA), Alignment mark detector for electron beam lithography.
  2. Burns Richard J. (Canoga Park CA) Grim Kenneth R. (Moorpark CA) Levy Miguel E. (Camarillo CA), Analog-digital correlator.
  3. Sebald Georg (Munich DEX) Nist Alfred (Grafrath DEX), Bit/1 bit digital correlator.
  4. Castelaz Patrick F. (Yorba Linda CA), Fine-grained microstructure processor.
  5. Bessho Goroh (Yokohama JPX) Ejiri Koichi (Narashino JPX), Method and apparatus for detection of a skew angle of a document image using a regression coefficient.
  6. Yokoyama Shotaro (Kanagawa JPX) Nishibe Takashi (Kanagawa JPX), Object-detecting system for optical instrument.
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