$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Surgical knife cleaner 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • A47L-025/00
출원번호 US-0591397 (1984-03-15)
발명자 / 주소
  • DeVries, James H.
  • Dufek, John H.
출원인 / 주소
  • DLP Inc.
대리인 / 주소
    Barnes, Kisselle, Raisch, Choate, Whittemore & Hulbert
인용정보 피인용 횟수 : 22  인용 특허 : 4

초록

A surgical knife cleaner and, more particularly, a cleaner for a cautery knife used to clean and cauterize incisions and wounds. A readily attachable base has a cradle to retain a closely coiled strand on an axis parallel to the base. The cradle has edges to limit the introduction of the knife in th

대표청구항

1. A disposable cleaner for a surgical knife which comprises a support base, a cradle affixed to and extending along said support base, said cradle having an arcuate cross section with free top edges spaced from said support base, a closely wound coil having a central axis, means fastening sai

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Eisenberg Abraham (6604 Chippewa Dr. Baltimore MD 21209), Brush bristle cleaning system.
  2. Eisenberg Abraham (6604 Chippewa Dr. Baltimore MD 21209), Brush bristle cleaning system.
  3. Eldridge ; Jr. John D. (310 S. Bayfront Balboa Island CA 92662) DeMayo William D. (511 Hazel Drive Corona Del Mar CA 92625), Cleaner for cauterizing implements.
  4. Taggart John K. (Indianapolis IN), Fishing rod holder.

이 특허를 인용한 특허 (22)

  1. Nesbitt, Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  2. Nesbitt,Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  3. Nesbitt,Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  4. Nesbitt,Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing the same.
  5. Dao Leland H. (Haleiwa HI), Cauterizer blade wiping device.
  6. Mangus Donald J. (500 Cohasset Rd. Suite 27 Chico CA 95926), Cautery tip cleaner.
  7. Mangus Donald J. (500 Cohasset Rd. ; Ste. 27 Chico CA 95926), Cautery tip cleaner and holder.
  8. Gentelia, John S.; Karpowich, Ronald P.; Zobrist, William P.; Rodriguez, Angel R.; Robb, Alexander F., Electrosurgical blade having directly adhered uniform coating of silicone release material and method of manufacturing same.
  9. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  10. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  11. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  12. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  13. Nesbitt,Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  14. Kidd, III, John L., Guitar with pick support.
  15. Parker, Matt, Knife cleaning brush.
  16. Phillips James L. (Mattawan MI) Richardson Dale W. (Mattawan MI) Silverman Lawrence M. (Danville CA), Method of making a device for cleaning electric knives.
  17. Mizuta Masaharu,JPX, Probe cleaning tool, probe cleaning method and semiconductor wafer testing method.
  18. Joshua M. Urueta ; R. Wilfrido Urueta, Self-cleaning holster for electrocautery tip.
  19. Schwab, Frank J., Surgical instrument and electrocautery tip-cleaning device.
  20. Rauch, Steven Scott, Surgical instrument tip cleaner.
  21. Maekawa, Shigeki; Takemoto, Megumi; Miki, Kazunobu; Kano, Mutsumi; Nagata, Takahiro; Kashiba, Yoshihiro, Test probe for semiconductor devices, method of manufacturing of the same, and member for removing foreign matter.
  22. Maekawa, Shigeki; Takemoto, Megumi; Miki, Kazunobu; Kano, Mutsumi; Nagata, Takahiro; Kashiba, Yoshihiro, Test probe for semiconductor devices, method of manufacturing of the same, and member for removing foreign matter.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로