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Configuration detecting method and system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/24
출원번호 US-0432799 (1982-10-05)
우선권정보 JP-0158044 (1981-10-06)
발명자 / 주소
  • Nakagawa, Yasuo
  • Oshida, Yoshitada
  • Ishige, Kanji
출원인 / 주소
  • Hitachi, Ltd.
대리인 / 주소
    Antonelli, Terry & Wands
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 1

초록

Method and system of detecting a configuration of a three-dimensional object, in which use is made of a spot beam to be directed to the object. The spot beam is caused to scan the object in a horizontal direction and the resulting spot image is detected through observation in a direction transverse

대표청구항

1. A configuration detecting method comprising the steps of passing a laser beam from a laser beam source into a first Fourier transformation lens, reflecting said transformed laser beam by a light deflector, passing said reflected light beam into a second Fourier transformation lens for Fourier inv

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Pirlet Robert A. (Embourg BEX), Determining the profile of a surface of an object.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Tanaka Hideyuki,JPX ; Sano Yasukazu,JPX ; Tanigawa Taichi,JPX, Apparatus for detecting occupant's posture.
  2. Tanaka Hideyuki,JPX ; Sano Yasukazu,JPX ; Tanigawa Taichi,JPX, Control method for inflating air bag for an automobile.
  3. Mutch, William R.; Fiore, Thomas F.; Porras, Randall A.; Thompson, Chester O. D., High security key scanning system.
  4. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R.; Porras, Randall A., Key blank identification system with bitting analysis.
  5. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R., Key blank identification system with groove scanning.
  6. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R., Key blank identification system with groove scanning.
  7. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  8. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  9. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  10. Mutch, William R.; Porras, Randall A.; Fiore, Thomas F., Key duplication machine.
  11. Mutch, William R.; Porras, Randall A.; Fiore, Thomas F., Key duplication machine.
  12. John S. Titus ; John E. Bolkcom, Key measurement apparatus and method.
  13. Liu Gang ; Schwartz Mark H., Laser-based inspection system for optical disks.
  14. Svetkoff Donald J. ; Kilgus Donald B. T., Method and system for suppressing unwanted reflections in an optical system.
  15. Hecker Joel (Port Jefferson Station NY) Stern Howard K. (Greenlawn NY), Optical spot scanning system for use in three-dimensional object inspection.
  16. Kakinoki Yoshikazu (Machida JPX) Nakashima Masato (Yokohama JPX) Koezuka Tetsuo (Hachioji JPX) Hiraoka Noriyuki (Kawasaki JPX) Tsukahara Hiroyuki (Atsugi JPX) Suto Yoshinori (Kawasaki JPX) Oshima Yos, Optical system for detecting three-dimensional shape.
  17. Svetkoff Donald J. ; Rohrer Donald K. ; Kelley Robert W., Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system.
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