$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Capacitive article density monitor 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H02P-005/00
  • B65G-043/00
출원번호 US-0677411 (1984-12-03)
발명자 / 주소
  • Martin Ralph E. (Oak Lawn IL) Puidak Heino (Hoffman Estates IL)
출원인 / 주소
  • Continental Can Company, Inc. (Stamford CT 02)
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 7

초록

A capacitance article density monitor which is adjusted to have a zero voltage output when no articles are positioned adjacent a sensor and wherein the output of the circuit may be utilized directly to control a variable speed drive for a machine to which articles are being directed depending upon t

대표청구항

A capacitive article density monitor comprising an elongated sensor, a compensator in the form of a bank of capacitors including a plurality of individual capacitors each having a selector switch, a power supply, a pulsed control unit providing control pulses at different intervals, a first selector

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Conte Alberto (Turin ITX), Absolute precision transducer for linear or angular position measurements.
  2. McComas Jerry L. (Sunnyvale CA) Crawford Donald C. (Green Bay WI), Backlog control system for processing machine.
  3. Tanaka Hiroaki (Okazaki JPX) Akita Shigeyuki (Okazaki JPX), Capacitance type distance detecting apparatus.
  4. Witney Gary (Thornhill CAX) Visser Harry (Thornhill CAX), Capacitive sensor control system.
  5. Medwin Albert H. (65 Castle Howard Ct. Princeton NJ 08540), Electronic vernier.
  6. Meyer Hans U. (rue des Taneurs 3 1110 Morges CHX), Process for the capacitive measurement of lengths and of angles.
  7. Abbe Robert C. (Newton MA) Poduje Noel S. (Needham Heights MA), Wafer edge detection system.

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Rubbmark Jan R. (MalmSEX) Unruh Leif A. (MalmSEX) Bjernstad Bjrn L. G. (MalmSEX) Olsson Nils E. H. (Bara SEX) Gerlach Mariusz (Jrflla SEX), Device for sensing the number of items stored in a compartment.
  2. Sato, Naoki; Kikuchi, Hideo; Nakaya, Masahide, Image forming apparatus.
  3. Sato, Naoki; Kikuchi, Hideo; Nakaya, Masahide, Image forming apparatus.
  4. Shields Winston E. (8612 W. 127th St. Palos Park IL 60464), Machine control apparatus using wire capacitance sensor.
  5. Shields Winston E. (8612 W. 127th St. Palos Park IL), Machine control apparatus using wire capacitance sensor.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로