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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0608324 (1984-05-08) |
우선권정보 | DE-3133826 (1981-08-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 96 인용 특허 : 5 |
An analysis test strip and a process for the production of analysis test strips with a longitudinal carrier upon which is fixed at least one test field. The test field material is produced batchwise in an amount sufficient for a plurality of test strips, and thereafter, in a chronologically separate
A test strip for the analysis of components of a liquid, comprising: an elongated carrier having a longitudinally axis and a handling region provided for facilitating handling of the strip; a test field region on one surface of the carrier, said test field region including at least one test field in
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