[특허]Infrared spectrometer

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Infrared spectrometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01J-001/00
출원번호	US-0574862 (1984-01-30)
우선권정보	DE-3303140 (1983-01-31)
발명자 / 주소	Simon Arno (Ettlingen DEX) Gast Jrgen (Rheinstetten DEX)
출원인 / 주소	Bruker Analytische Messtechnik GmbH (DEX 03)
인용정보	피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 5

초록 ▼

An infrared spectrometer comprises first optical means for focussing a beam of light in a point-shaped area of a sample (19), second optical means for focussing upon a detector (26) the light emitted by the sample, and third optical means permitting the visual observation of the point-shaped area (19). The second optical means of this arrangement are so designed that they pick up the light reflected by the point-shaped area (19). The arrangement of the invention permits measurements to be performed on extremely small areas and even on samples which are not or hardly pervious to light in the infrared range.

대표청구항 ▼

An infrared spectrometer comprising: a source for generating a first beam of infrared radiation; first optical means for focusing said first beam in an approximately point-shaped area upon the surface of a sample under investigation; an infrared light-sensitive detector; second optical means for focusing upon said detector at least a portion of a second beam of infrared radiation reflected from said area upon indication of said first beam; visual observation means for visually viewing said area; and third optical means arranged for reflecting at least a portion of said second beam onto said visual observation means.

이 특허에 인용된 특허 (5)

Frasher ; Wallace G. ; Netto ; Daniel J. ; Marcus ; Carol S., Apparatus for microscopically viewing a specimen while detecting radiation particles therefrom.
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Gast Jrgen (Rheinstetten DEX) Wunsch Lutz (Vlkersbach DEX) Zachmann Gnter (Remchingen DEX), Auxiliary unit for carrying out reflection measurements using an IR spectrometer.
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Fumoto Takabumi (Yokosuka JPX) Sawaguchi Mutsuo (Sagamihara JPX), Infrared thickness measuring device.
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Horton Richard F. (Dunkirk MD), Optical system for infrared tracking.
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Markle David A. (Norwalk CT) Offner Abe (Darien CT), System for illuminating an annular field.
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이 특허를 인용한 특허 (14)

Harrick Nicolas J. (Croton Dam Rd. Ossining NY 10562), Accessory for infrared emission spectroscopy.
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Sting Donald W. (New Canaan CT) Messerschmidt Roger G. (Westport CT), Aperture image beam splitter.
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Sting Donald W. (New Canaan CT), Grazing angle microscope.
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Juette, Michael; Keens, Axel, IR microscope with image field curvature compensation, in particular with additional illumination optimization.
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Doyle Walter M. (Laguna Beach CA), Infrared microscope employing a projected field stop.
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Eguchi Kinya (Fujisawa JPX) Niitsuma Kikue (Yokohama JPX) Wakena Shigeru (Mobara JPX) Ezawa Masayoshi (Mobara JPX), Infrared microspectrometer.
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Doyle Walter M. (Laguna Beach CA) Hughes Norman S. (San Clemente CA), Microscope for use in modular FTIR spectrometer system.
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Messerschmidt Robert G. (Stamford CT) Sting Donald W. (Stamford CT), Microscope having dual remote image masking.
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Treado,Patrick J.; Nelson,Matthew; Keitzer,Scott, Near infrared chemical imaging microscope.
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Treado,Patrick J.; Nelson,Matthew; Keitzer,Scott, Near infrared chemical imaging microscope.
상세보기
Doyle Walter M. (Laguna Beach CA) Hughes Norman S. (San Clemente CA), Reflectance infrared microscope having high radiation throughput.
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Sting Donald W. (New Canaan CT) Messerschmidt Robert G. (Westport CT), Reflective beam splitting objective.
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Raymond K. DeLong, Shared telescope optical communication terminal.
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Duval,Landon, Substance detection and alarm using a spectrometer built into a steering wheel assembly.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

KIPRIS 원문보기

IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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