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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0438101 (1982-11-01) |
우선권정보 | JP-0184095 (1981-11-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 15 인용 특허 : 5 |
In a method for testing for probe calibration, a square-wave signal is applied to a probe and a cyclic probe output signal resulting therefrom is compared to a reference level at a plurality of points along one cycle of the output signal. The reference signal is iteratively increased or decreased un
A probe calibration testing apparatus, comprising: means for generating a square-wave signal to be applied to a probe; means for generating a variable reference level; means for comparing an output signal from said probe with the reference level and for producing an output signal indicating whether
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