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Method and apparatus for testing probe calibration 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/20
  • G01R-035/00
출원번호 US-0438101 (1982-11-01)
우선권정보 JP-0184095 (1981-11-17)
발명자 / 주소
  • Manome Teruo (Kanagawa JPX) Miki Yasuhiko (Tokyo JPX) Takita Kentaro (Tokyo JPX) Fukuta Minoru (Tokyo JPX)
출원인 / 주소
  • Sony/Tektronix Corporation (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 5

초록

In a method for testing for probe calibration, a square-wave signal is applied to a probe and a cyclic probe output signal resulting therefrom is compared to a reference level at a plurality of points along one cycle of the output signal. The reference signal is iteratively increased or decreased un

대표청구항

A probe calibration testing apparatus, comprising: means for generating a square-wave signal to be applied to a probe; means for generating a variable reference level; means for comparing an output signal from said probe with the reference level and for producing an output signal indicating whether

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Frye George J. (12175 SW. Douglas St. Portland OR 97225) Geerling Leonardus J. (Rte. 2 ; Box 124D Hillsboro OR 97123), Automatic transient response analyzer system.
  2. Carlton Dale E. (Hillsboro OR) Wilke William G. (Beaverton OR), Compensation indicator for attenuation probe.
  3. Crop ; Roland Emil, Compensation indicator for attenuation probe.
  4. Goyal Ramesh C. (Bothell WA) Turnbull Thomas H. (Everett WA), Method and apparatus for high speed resistance, inductance and capacitance measurement.
  5. Bustin Raphael (Rockport MA), Zero reference and offset compensation circuit.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Zwirn Robert (Los Angeles CA), Automated system for testing an imaging sensor.
  2. Chern, Jenn-Gang; Sim, Yukeun, Calibration device and memory system having the same.
  3. Mc Pherson, Mark E.; Waldo, Gary J.; Eagle, Louis R.; Running, Leif X.; Johnson, Gary M.; Azinger, Frederick A.; Fitzsimmons, Lynne A.; Sullivan, Steve K., Calibration method and apparatus for signal analysis device.
  4. Choi, Sang Joon, Computer multimeter.
  5. Wilczek Klaus,DEX ; Topp Volker,DEX, Device for pin adjusting in sensors.
  6. Swerlein Ronald L. (Longmont CO) DesJardin Lawrence A. (Loveland CO) Stever Scott (Loveland CO), Device with automatic compensation of an ac attenuator.
  7. Shimizu Giichiro (Tokyo JPX) Okuyama Toshiharu (Tokyo JPX) Wakatsuki Yoshio (Tokyo JPX), Displacement measuring apparatus.
  8. Shimizu Giichiro (Tokyo JPX) Okuyama Toshiharu (Tokyo JPX) Wakatsuki Yoshio (Tokyo JPX), Displacement measuring apparatus.
  9. Booth, Jr.,Roger Allen; Doyle,Matthew Stephen; Landin,Lynn Robert; Liang,Thomas W.; Patel,Ankur Kanu, Method and apparatus for implementing automatic-calibration of TDR probing system.
  10. Booth, Jr.,Roger Allen; Doyle,Matthew Stephen; Landin,Lynn Robert; Liang,Thomas W.; Patel,Ankur Kanu, Method and apparatus for implementing automatic-calibration of TDR probing system.
  11. Tamamura Toshio (Tokyo JPX) Hoshika Akira (Tokyo JPX) Hiwada Kiyoyasu (Tokyo JPX), Method and apparatus for measuring settling characteristics of a device under test by using a measurement system for mea.
  12. Zhao,Yuegang, Method for calibrating a pulsed measurement system.
  13. Li, Hui, Oscilloscope probe calibrating system.
  14. Kumar Shalabh (Kildeer IL) Chow Vince (Highland Park IL), Programmable controller linear transducer input modules.
  15. Galligan James J. (Joliet IL) Quinlan Harry W. (Frankfort IL) Hedden Steven J. (Morris IL), Reactor control system verification.
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