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Optical device for measuring the diameter and detecting surface defects of moving wire 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/86
  • G01N-021/88
출원번호 US-0797048 (1985-11-12)
발명자 / 주소
  • Cielo Paolo (Montreal CAX) Vaudreuil Ghislain (Boucherville CAX)
출원인 / 주소
  • Canadian Patents and Development Limited (Ottawa CAX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 8

초록

An apparatus using optical techniques for simultaneously detecting surface defects and measuring the diameter of a wire coming out from an extruder. A combination of cylindrical lenses is used for projecting, perpendicularly across the longitudinal axis of the wire, a sharply focused laminar beam. T

대표청구항

A non-contact type apparatus for simultaneously detecting surface defects and measuring the diameter of an elongated object moving along its longitudinal axis comprising: an incoherent optical source system for emitting incoherent optical rays; an optical system situated between the optical source s

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Pryor Timothy R. (Techmseh CAX), Electro-optical sensors with fiber optic bundles.
  2. Pryor Timothy R. (Tecumseh CAX), Electro-optical sensors with fiber optic bundles.
  3. Fletcher James C. Administrator of the National Aeronautics and Space Administration ; with respect to an invention of ( South Pasadena CA) Stocker Phillip J. (South Pasadena CA) Marcus Harris L. (Au, Laser extensometer.
  4. Petrohilos Harry G. (Yellow Springs OH) Taylor Francis M. (Xenia OH), Light beam shape control in optical measuring apparatus.
  5. Lucas John M. (Montreal CA) Gracovetsky Serge (St. Lambert CA), Measuring the surface roughness of a moving sheet material.
  6. Pryor Timothy R. (Windsor CAX) Hageniers Omer L. (Windsor CAX) Pastorius Walter J. (Windsor CAX) Liptay-Wagner Nicholas (Windsor CAX) Clarke Donald A. (Windsor CAX), Method and apparatus for determining physical characteristics of objects and object surfaces.
  7. Vossberg Carl A. (Umatilla FL), Non-contact scanning gage.
  8. Fuchs-Viniczay Gabriella (Steinach CH) Huber Kurt (Arbon CH), Optical-electrical system for monitoring filaments, wires, strands, tapes and the like.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Brown Jeff Lee, Electro-optic, noncontact, interior cross-sectional profiler.
  2. Lane, Michael H.; Doyle, Jr., James L.; Brinkman, Michael J., High-speed volume measurement system and method.
  3. Tange,Hiroshi; Suzuki,Ushio, Inspection device for metal rings of a continuously variable transmission belt.
  4. Kusuzawa Hideo (Kobe JPX), Particle analyzing apparatus using a coherence lowering device.
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