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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0719399 (1985-04-03) |
발명자 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 25 인용 특허 : 3 |
An index of refraction sensor utilizing a sensor face inclined at the nominal critical angle of an incident beam, refracts or reflects this incident radiation depending upon the wavelength of that radiation and the index of refraction external to it. The refraction sensor apparatus includes a broadb
An index of refraction sensor for monitoring the index of refraction of a material external to a sensing face on the sensor by establishing at least one critical wavelength comprising in combination: a first radiant energy path means comprising a single mode optical fiber waveguide and a second radi
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