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Machine vision differential measurement system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04N-007/18
출원번호 US-0893220 (1986-08-05)
발명자 / 주소
  • Hoogenboom Leo (Ballston Spa NY) Jackson
  • Jr. Robert L. (Schenectady NY) Kraft Russell P. (Averill Park NY) Offt Alan M. (Clifton Park NY)
출원인 / 주소
  • Mechanical Technology Incorporated (Latham NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 4

초록

In the present system, the thickness of an object with two surfaces is determined by forming two geometric images on the surfaces in a superimposed relationship. The images are viewed by two video cameras and their relative positions with respect to two corresponding references are determined. These

대표청구항

A system for measuring a dimension of an object along a predetermined axis said object having a first and a second surface defining said dimensions, comprising: projecting means for projecting first and second features on said first and second surfaces respectively along a first axis; imaging means

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Bodlaj Viktor (Munich DEX), Device for contact-free thickness measurement.
  2. Morander Karl-Erik (Lerum SEX), Dimension measuring apparatus.
  3. White Steven J. (Seattle WA), High speed scanning method and apparatus.
  4. Oshida Yoshitada (Fujisawa JPX) Makihara Hiroshi (Yokohama JPX) Aoki Nobuhiko (Yokohama JPX), Plate thickness measuring method and apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Deppe Gerd-Joachim (Krefeld DEX) Fister Wilhelm (Neuss DEX) Schoenartz Norbert (Duesseldorf DEX), Acquiring dimensions of a large object.
  2. Pangrazio, John Gregory; Pangrazio, John Alan; Pangrazio, Robert Thomas; Brey, Kenneth Lloyd; Pena-Gutierrez, Cesar, Dimensional detection system and associated method.
  3. Mutch, William R.; Fiore, Thomas F.; Porras, Randall A.; Thompson, Chester O. D., High security key scanning system.
  4. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R.; Porras, Randall A., Key blank identification system with bitting analysis.
  5. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R., Key blank identification system with groove scanning.
  6. Thompson, Chester O. D.; Mutch, William R., Key blank identification system with groove scanning.
  7. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  8. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  9. Bass, Michael A.; Mutch, William R.; Ryai, Sr., Richard W.; Thompson, Chester O. D.; Drake, Robert E.; Porras, Randall A., Key duplication machine.
  10. Mutch, William R.; Porras, Randall A.; Fiore, Thomas F., Key duplication machine.
  11. Mutch, William R.; Porras, Randall A.; Fiore, Thomas F., Key duplication machine.
  12. Zirm Mathias (Fallmerayerstrasse 3 Innsbruck ATX 6020), Mechanism of observation and recording operation on an object.
  13. Haensch Egon,CHX, Method and device for monitoring the thickness of continuously conveyed flat objects.
  14. Pacenzia, Stefano; Casagrande, Ettore; Foscan, Eros, Method to identify a key profile, machine to implement the method and apparatus for the duplication of keys utilizing the machine.
  15. Braun Paul A. (Simi Valley CA) Ormsby Michael W. (Thousand Oaks CA) De Zotell Gary L. (Simi Valley CA), System and method for analyzing dimensions of can tops during manufacture.
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