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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0011413 (1987-02-04) |
우선권정보 | JP-0211626 (1983-11-10); JP-0217434 (1983-11-18) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 33 인용 특허 : 8 |
Automatic photomask or reticle washing and cleaning system comprises a foreign particle inspecting unit for inspecting whether or not foreign particles are attached to the surfaces of substrates; a washing and cleaning unit for washing and cleaning the surfaces of substrates with a cleaning liquid,
A system for washing and cleaning the surfaces of a flat substrate horizontally encased in a case comprising: means for inspecting foreign particles attached to the surface of said flat substrate, said inspecting means including first holder means for holding said flat substrate in a horizontal stat
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