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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0848021 (1986-04-03) |
우선권정보 | JP-0110888 (1981-07-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 0 |
A method and apparatus for automatically focussing a specimen image in an electron microscope. Excitation currents for an objective lens of the microscope are previously determined in accordance with predetermined magnifications in one-to-one correspondence. When one of the magnifications is selecte
A method of focusing images of a specimen in an electron microscope, comprising: presetting excitation current for an objective lens of said electron microscope at least at a value relative to one of predetermined magnification in the manner that an under focused image of a high contrast can be obta
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