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[미국특허] Dual channel time domain reflectometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H03K-017/16
  • H03K-017/74
출원번호 US-0858611 (1986-04-30)
발명자 / 주소
  • Agoston Agoston (Beaverton OR) Rettig John B. (Aloha OR) Kaveckis Stanley P. (Aurora OR) Carlson John E. (Portland OR) Finkbeiner Andrew E. (Beaverton OR)
출원인 / 주소
  • Tektronix, Inc. (Beaverton OR 02)
인용정보 피인용 횟수 : 26  인용 특허 : 0

초록 ▼

A dual channel time domain reflectometer includes a pair of input lines connected at respective nodes to a reference flat current pulse generator and a traveling wave sampling gate, respectively. The sampling gates are actuated by a balanced strobe generator which includes a waveguide coupler for co

대표청구항 ▼

A time domain reflectometer comprising: (a) a pair of input channels; (b) a pair of sampling gate means, one connected to each of said input channels for sampling signals thereon; (c) strobe pulse generator means for providing a trigger pulse; and (d) waveguide coupling means responsive to said trig

이 특허를 인용한 특허 (26) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Strid, Eric; Gleason, K. Reed, Active wafer probe.
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  2. Strid,Eric; Gleason,K. Reed, Active wafer probe.
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  3. Burnett Gale D. (9191 Northwood Rd. Lynden WA 98264), Apparatus and method for pulse propagation analysis of a pipeline or the like.
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  4. Raja, Rajendran, Compensatable muon collider calorimeter with manageable backgrounds.
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  5. Burnett Gale D., Detection of surface anomalies in elongate conductive members by pulse propagation analysis.
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  6. Gale D. Burnett, Detection of surface anomalies in elongate conductive members by pulse propagation analysis.
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  7. Campbell, Richard; Strid, Eric W.; Andrews, Mike, Differential signal probe with integral balun.
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  8. Campbell, Richard L.; Andrews, Michael, Differential waveguide probe.
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  9. Hayden, Leonard; Martin, John; Andrews, Mike, Method of assembling a wafer probe.
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  10. Burnett Gale D. (Lynden WA), Method of detecting a conductor anomaly by applying pulses along the conductor in opposite directions.
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  11. Miller, Charles A.; Tseng, Jim Chih Chiang, Method of estimating channel bandwidth from a time domain reflectometer (TDR) measurement using rise time and maximum slope.
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  12. Needle, Dave; Shepard, Stan F., Methods and apparatus for time domain reflectometry.
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  13. Libove, Joel M.; Chacko, Steven J., Methods and apparatuses for multiple sampling and multiple pulse generation.
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  14. Joel M. Libove ; Steven J. Chacko, Methods, apparatuses, and systems for sampling or pulse generation.
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  15. Kuo John T. ; Burnett Gale D., Pipe testing apparatus and method using electrical or electromagnetic pulses transmitted into the pipe.
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  16. Hayden,Leonard; Rumbaugh,Scott; Andrews,Mike, Probe for combined signals.
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  17. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Strid,Eric W.; Andrews,Mike; Martin,John; Dunklee,John; Hayden,Leonard; Safwat,Amr M. E., Shielded probe for high-frequency testing of a device under test.
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  18. Gleason, K. Reed; Lesher, Tim; Strid, Eric W.; Andrews, Mike; Martin, John; Dunklee, John; Hayden, Leonard; Safwat, Amr M. E., Shielded probe for testing a device under test.
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  19. Gleason,K. Reed; Lesher,Tim; Strid,Eric W.; Andrews,Mike; Martin,John; Dunklee,John; Hayden,Leonard; Safwat,Amr M. E., Shielded probe with low contact resistance for testing a device under test.
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  20. Andrews, Peter; Hess, David, System for testing semiconductors.
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  21. Burnett, Gale D.; Frost, Charles A., Systems and methods for testing conductive members employing electromagnetic back scattering.
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  22. Burnett,Gale; Frost,Charles A., Systems and methods for testing conductive members employing electromagnetic back scattering.
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  23. Bolles David C. (Scottsdale AZ) Gotfredson Eric J. (Phoenix AZ) Ellis Robert W. (Phoenix AZ), TDR cable testing apparatus with pulse timing manipulation to automatically compensate for diverse cable characteristics.
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  24. Campbell, Richard, Test structure and probe for differential signals.
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  25. Ems, Stephen; Kreymerman, Simon; Pupalaikis, Peter J, Time domain reflectometry in a coherent interleaved sampling timebase.
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  26. Hayden,Leonard; Martin,John; Andrews,Mike, Wafer probe.
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