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[미국특허] Device for testing and sorting electronic components 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B07C-005/344
출원번호 US-0921434 (1986-10-22)
우선권정보 DE-3539965 (1985-11-11)
발명자 / 주소
  • Ueberreiter Ekkehard (Drosselweg 14 D-8201 Raubling DEX)
인용정보 피인용 횟수 : 34  인용 특허 : 7

초록

To reduce manual work by an operator filling and unloading a device for testing and sorting electronic components it is suggested that a cassette carriage carrier (8) with a cassette carriage (10) displaceable therein, be placed in front of the input magazine (2). The cassette carriage (10) carries

대표청구항

Device for testing and sorting electronic components, more particularly those with integrated circuits (IC\s), having an input magazine, which has at a first end a plurality of magazine channels arranged parallel to each other and running at an incline, said input magazine having at a second end opp

이 특허에 인용된 특허 (7) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Cedrone Nicholas J. (Wellesley Hills MA) Lee Kenneth R. (Lincoln MA), Automatic feed apparatus and process for integrated circuits stored in tubes.
  2. Heigl Helmut (Kolbermoor DEX), Device for receiving components, particularly integrated chips, in an input and/or output magazine of a component testin.
  3. Boissicat Claude M. (Sunnyvale CA), Dip-handling apparatus.
  4. O\Connor Bruce (San Diego CA), Electronic device handler.
  5. Janisiewicz Stanley W. (Endwell NY) Hills Maynard J. (Owego NY) Lovell Edward J. (Binghamton NY), Indexed feed of electronic component supply tubes.
  6. Moechnig Carl (St. Paul MN) Lunquist Frank C. (St. Paul MN), Integrated circuit handling and contact system.
  7. Pennings ; Matheus D., Magazine apparatus for semiconductor processing device.

이 특허를 인용한 특허 (34) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
  2. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
  3. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
  4. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
  5. Elliott William A. (Reynoldsburg OH) Greene Richard A. (Pickerington OH) Kennedy Robert P. (Westerville OH) Poe ; Jr. Robert P. (Columbus OH) Steece William H. (Columbus OH), Component insertion machine apparatus.
  6. Helmuth Heigl DE, Component picker.
  7. Martino, Peter, Damping vibrations within storage device testing systems.
  8. Merrow, Brian S.; Truebenbach, Eric L.; Smith, Marc Lesueur, Dependent temperature control within disk drive testing systems.
  9. Nakamura Hiroto,JPX ; Kobayashi Yoshihito,JPX ; Suzuki Katsuhiko,JPX, Device transfer apparatus and device reinspection method for IC handler.
  10. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
  11. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
  12. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
  13. Arena, John Joseph; Suto, Anthony J., Electronic assembly test system.
  14. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for disk drive testing systems.
  15. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for storage device testing systems.
  16. Campbell, Philip; Wrinn, Joseph F., Engaging test slots.
  17. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Heating storage devices in a testing system.
  18. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
  19. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
  20. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
  21. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
  22. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device testing system with a conductive heating assembly.
  23. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
  24. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
  25. Merrow, Brian S., Temperature control within storage device testing systems.
  26. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
  27. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
  28. Merrow, Brian S., Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit.
  29. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
  30. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
  31. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
  32. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
  33. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
  34. Merrow, Brian S., Vibration isolation within disk drive testing systems.

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