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Non-contact high resolution displacement measurement technique 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/02
출원번호 US-0041873 (1987-04-22)
발명자 / 주소
  • Sabersky Andrew P. (Santa Cruz CA) Littlestone Nicholas (Santa Cruz CA) Abbott Jack E. (Santa Cruz CA) Gibbons William J. (Modesto CA) D\Orazio Robert R. (Santa Cruz CA) Smith Nathan R. (Stillwater M
출원인 / 주소
  • Micro Component Technology, Inc. (Shoreview MN 02)
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 11

초록

Apparatus is disclosed for optically detecting the position of an edge of a workpiece (such as an IC lead tip) in a sensing plane, involving the emission of electromagnetic energy from a known source region in the sensing plane such as to cause the edge to create a shadow having a penumbra in the se

대표청구항

Apparatus for at least partially determining a coordinate position at which an edge of a workpiece intersects a sensing plane, the sensing plane containing a z-axis, the apparatus comprising: source means for emitting energy from a source region intersecting the sensing plane, the energy striking th

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Linker Frank V. (Broomall PA) Shuren Thomas E. (Stanhope NJ), Apparatus and method for lead integrity determination for dip devices.
  2. Suwa Kyoichi (Yokohama JPX), Apparatus for detecting position of an object such as a semiconductor wafer.
  3. Langley, Dennis C.; Brekka, Thomas T., Apparatus for determining the alignment of leads on a body.
  4. Miller John W. V. (Toledo OH) Ringlien James A. (Maumee OH), Glue drop detector.
  5. Schiler Frederick S. (3375 Oak Rd. Stow OH 44224), Measuring method and apparatus.
  6. Livnat Aminadav (Arad ILX) Kafri Oded (Beer-Sheva ILX), Method and apparatus for optically measuring distance between two surfaces.
  7. Covey Robert L. (Cranbury NJ) Gale Michael T. (Wettswil NJ CHX) Gorog Istvan (Princeton NJ) Beltz John P. (Willingboro NJ), Method and apparatus of determining the true edge length of a body.
  8. Ernst, Alfons, Movable aperture photoelectric measuring instrument.
  9. Gugliotta George (Ridgefield CT) Moir ; II Floyd W. (Seymour CT) Moros ; Jr. Edward M. (New Milford CT), Pin receptacle inspection apparatus and method.
  10. Price Donald R. C. (Kent GB2), Position determination.
  11. Carner ; Jr. Don C. (132 Eagle Rock Ave. Channel Islands CA 93035), Umbra/penumbra detector.

이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Grimes Nickolas H. (2344 Port Aberdeen Pl. Newport Beach CA 92660), Aircraft wing position indicator.
  2. Sang-cheol Kim KR, Apparatus and method for aligning components.
  3. Harris David E., Apparatus and method for binocular measurement system.
  4. Harris David E., Apparatus and method for binocular measurement system.
  5. Tokura Nobufumi (Fukuoka JPX), Appearance inspection apparatus and appearance inspection method of electronic components.
  6. Seachman Ned J. ; Taillie Joseph P. ; Carolan Kevin M. ; Baldwin Leroy A. ; Brutovski Robert ; Perregaux Alain E. ; Hower ; Jr. John D., Copy substrate edge electronic registration system for a reprographic system.
  7. Atherton, Kim, Displacement sensor using multiple position sensitive photodetectors.
  8. Ogawa, Shigeki, Measuring apparatus, drawing apparatus, and article manufacturing method.
  9. Kerhuel, Lubin; Franceschini, Nicolas; Viollet, Stephane, Method and device for measuring the angular position of a rectilinear contrasting edge of an object, and system for fixation and tracking a target comprising at least one such contrasting edge.
  10. Hirano Masato,JPX ; Sakai Yoshinori,JPX ; Nakashima Tateo,JPX, Method and device for mounting electronic component.
  11. Hirano, Masato; Sakai, Yoshinori; Nakashima, Tateo, Method and device for mounting electronic component.
  12. Hirano, Masato; Sakai, Yoshinori; Nakashima, Tateo, Method and device for mounting electronic component.
  13. Masato Hirano JP; Yoshinori Sakai JP; Tateo Nakashima JP, Method and device for mounting electronic component.
  14. Baldwin Leo B. ; Kelley Michael P., Method and system for determining lead coplanarity.
  15. Neubauer Norbert,DEX ; Heine Peter,DEX, Method for cutting Y bevels.
  16. Pietrzak Kenneth A. ; Puffer Leroy G. ; Bari Farooq, Optical profile sensor.
  17. Pietrzak Kenneth A. ; Puffer Leroy G. ; Bari Farooq, Optical profile sensor.
  18. Drumm, Jan Oliver; Rehn, Henning; Lanchava, Bakuri; Pabst, Wolfgang; Kraus, Robert, Projection apparatus having improved projection properties, and method and procedure, respectively, for projecting an image.
  19. Wu, Steve S.; Dickrell, Martin L.; Nicholas, George F.; Christensen, Timothy A., Sensor assembly.
  20. Wu, Steve S.; Dickrell, Martin L.; Nicholas, George F.; Christensen, Timothy A., Sensor assembly.
  21. Iizuka, Naoya; Amemiya, Mitsuaki; Miyake, Akira, X-ray optical apparatus and adjusting method thereof.
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