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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0094860 (1987-09-09) |
우선권정보 | DE-3633792 (1986-10-03) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 6 |
The circuit arrangement is used for capacitance or admittance measurement by the principle of apparent current measurement in that to the capacitance or admittance to be measured an AC voltage of fixed magnitude and fixed frequency is applied and the AC current flowing through the capacitance or adm
A circuit arrangement for measuring the capacitance or admittance of a test object by the principle of apparent current measurement in which an AC voltage of fixed magnitude and frequency is applied to the test object and the alternating current flowing through the test object is used as a measure o
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