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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0187336 (1988-04-28) |
우선권정보 | DE-3719203 (1987-06-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 11 인용 특허 : 7 |
A mechanical probe for optical measurement of electrical signals. The probe for optical measurement of electrical signals with high chronological resolution is composed of a cuboid electro-optical crystal, of a co-planar waveguide structure located on a lateral face of the crystal and of a metallic
A mechanical probe for optical measurement of electrical signals having an electro-optical crystal penetrated by electro-magnetic radiation, comprising: a measuring tip located on an end of the crystal; and a waveguide structure conductively connected to the measuring tip and located on a face of th
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