[특허]Voltage detector employing electro-optic material having a corner-cube shape

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Voltage detector employing electro-optic material having a corner-cube shape 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-031/00 G01R-019/00 G02B-005/122
출원번호	US-0233090 (1988-08-15)
우선권정보	JP-0203921 (1987-08-17)
발명자 / 주소	Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX)
출원인 / 주소	Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha (Shizuoka JPX 03)
인용정보	피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 4

초록 ▼

In a voltage detector using an electro-optic material whose refractive index is changed by a voltage developing in a selected area of an object under test, an end portion of the electro-optic material has a corner-cube shape, whereby the detection of the voltage can be accurately achieved substantia

대표청구항 ▼

A voltage detector for detecting a voltage developing in a selected area of an object to be measured, comprising: a light source for emitting a light beam; a voltage-sensing part including an electro-optic material for sensing said voltage in said object as a change of a refractive index thereof, an end portion of said electro-optic material having a corner-cube shape; splitting and extracting means for extracting a light beam with a first predetermined polarization component from a light beam introduced from said light source which is launched into said electro-optic material as an input light beam, and extracting an output light beam with a second predetermined polarization component from an output light beam emerging from said electro-optic material after reflecting from said end portion of said material; and detection means for determining said voltage developing in said object on the basis of intensity of said output light beam with said second predetermined polarization component.

이 특허에 인용된 특허 (4)

Nees John A. (Rochester NY) Mourou Gerard A. (Rochester NY) Jackson Todd A. (Rochester NY), Electro-optic measurement (network analysis) system.
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Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY), Measurement of electrical signals with picosecond resolution.
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Mourou Gerard (Rochester NY) Meyer Kevin E. (Rochester NY), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
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Mourou Gerard (Rochester NY) Valdmanis Janis A. (Westfield NJ), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
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이 특허를 인용한 특허 (7)

Davidson, James R.; Seifert, Gary D., Electro-optic high voltage sensor.
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James R. Davidson ; Gary D. Seifert, Electro-optic high voltage sensor.
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Crawford Thomas M. ; Davidson James R. ; Woods Gregory K., Electro-optic voltage sensor head.
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Edwards Byron (Orange CA) Stewart ; Jr. George W. (Costa Mesa CA), Free expansion pseudo-zoom for laser projector.
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Hirae Sadao (Kyoto JPX) Matsubara Hideaki (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Sakai Takamasa (Kyoto JPX), Non-destructive measuring sensor for semiconductor wafer and method of manufacturing the same.
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Kazuhisa Sueoka JP, Thin film spin probe.
상세보기
Takahashi Hironori (Shizuoka JPX) Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX), Voltage measuring apparatus.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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