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특허 상세정보

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Voltage detector employing electro-optic material having a corner-cube shape

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-031/00    G01R-019/00    G02B-005/122   
미국특허분류(USC) 324/96 ; 324/72 ; 324/117R ; 324/158R
출원번호 US-0233090 (1988-08-15)
우선권정보 JP-0203921 (1987-08-17)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 4
초록

In a voltage detector using an electro-optic material whose refractive index is changed by a voltage developing in a selected area of an object under test, an end portion of the electro-optic material has a corner-cube shape, whereby the detection of the voltage can be accurately achieved substantially being free from the influence of the input light tilt to the optical axis.

대표
청구항
▼

A voltage detector for detecting a voltage developing in a selected area of an object to be measured, comprising: a light source for emitting a light beam; a voltage-sensing part including an electro-optic material for sensing said voltage in said object as a change of a refractive index thereof, an end portion of said electro-optic material having a corner-cube shape; splitting and extracting means for extracting a light beam with a first predetermined polarization component from a light beam introduced from said light source which is launched into said...

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Nees John A. (Rochester NY) Mourou Gerard A. (Rochester NY) Jackson Todd A. (Rochester NY). Electro-optic measurement (network analysis) system. USP1988054745361.
  2. Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY). Measurement of electrical signals with picosecond resolution. USP1984054446425.
  3. Mourou Gerard (Rochester NY) Meyer Kevin E. (Rochester NY). Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution. USP1986074603293.
  4. Mourou Gerard (Rochester NY) Valdmanis Janis A. (Westfield NJ). Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution. USP1986104618819.

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 7

  1. Davidson, James R.; Seifert, Gary D.. Electro-optic high voltage sensor. USP2003096621258.
  2. James R. Davidson ; Gary D. Seifert. Electro-optic high voltage sensor. USP2002056388434.
  3. Crawford Thomas M. ; Davidson James R. ; Woods Gregory K.. Electro-optic voltage sensor head. USP1999085939711.
  4. Edwards Byron (Orange CA) Stewart ; Jr. George W. (Costa Mesa CA). Free expansion pseudo-zoom for laser projector. USP1990114973115.
  5. Hirae Sadao (Kyoto JPX) Matsubara Hideaki (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Sakai Takamasa (Kyoto JPX). Non-destructive measuring sensor for semiconductor wafer and method of manufacturing the same. USP1996095554939.
  6. Kazuhisa Sueoka JP. Thin film spin probe. USP2002116479980.
  7. Takahashi Hironori (Shizuoka JPX) Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX). Voltage measuring apparatus. USP1991014982151.

IPC 상위 출원인