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[미국특허] Oven for the burn-in of integrated circuits 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • F25B-029/00
  • G01R-015/12
출원번호 US-0053107 (1987-05-21)
발명자 / 주소
  • Rignall Michael W. (Dursley GB3)
출원인 / 주소
  • Sharetree Limited (Stroud GB2 03)
인용정보 피인용 횟수 : 50  인용 특허 : 5

초록 ▼

Over for the burn-in of integrated circuits (12), comprising: a chamber (B) for receiving such circuits (12); first means (4), for heating such integrated circuits (12) in the chamber (B) with the circuits (12) fed with supply voltages; and control means for controlling the first means (4), includin

대표청구항 ▼

An oven for the burn-in of integrated circuits, comprising: a first chamber for receiving such circuits: first means for heating such integrated circuits in the first chamber; means for feeding such circuits with supply voltages; and control means for controlling the first means, including computer

이 특허에 인용된 특허 (5) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Vanderschaaf Donald (Holland MI), Environmental test chamber.
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  2. Young David N. (Glenrothes GB6), Heating oven.
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  3. Rochat Daniel F. (St-Blaise CA CHX) Ogawa Chuck C. (Irvine CA) Bui Uyen D. (Placentia CA), Method and apparatus for testing electro-mechanical devices.
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  4. Dice Charles A. (Milpitas CA), Modular dynamic burn-in apparatus.
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  5. Eager George (Cambridge MA) Selverstone Pater (Cambridge MA), Temperature control for device under test.
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이 특허를 인용한 특허 (50) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Turner, Jonathan E., Active power monitoring using externally located current sensors.
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  2. Gura Gerald A., Allocation of compressors to cooling chambers.
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  3. Tverdy Mark A. ; Nevill Leland R., Apparatus and method of controlling the environmental temperature near semiconductor devices under test.
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  4. Malinoski, Mark F.; Jones, Thomas P.; Annis, Brian; Turner, Jonathan E., Apparatus, method and system of liquid-based, wide range, fast response temperature control of electric devices.
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  5. Mark F. Malinoski ; Thomas P. Jones ; Brian Annis ; Jonathan E. Turner, Apparatus, method and system of liquid-based, wide range, fast response temperature control of electronic device.
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  6. Horvath, Ronald F.; Dragotta, Kenneth J.; Bilicki, Frank M., Assembly for automatic vehicle fueling.
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  7. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
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  8. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
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  9. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
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  10. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
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  11. Wong, Wei Ping; Chiew, Chee Keong; Lee, Kok Hua, Burn-in system for electronic devices.
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  12. Martino, Peter, Damping vibrations within storage device testing systems.
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  13. Merrow, Brian S.; Truebenbach, Eric L.; Smith, Marc Lesueur, Dependent temperature control within disk drive testing systems.
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  14. Conti,Dennis R.; Gamache,Roger; Gardell,David L.; Knox,Marc D.; Van Horn,Jody J, Device burn in utilizing voltage control.
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  15. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  16. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  17. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  18. Bauer, Jr.,Lawrence; Giewont,Kenneth; Iyer,Subramanian; Kim,Bosang; Lloyd,Jeffrey; Locke,Peter; Norum,James; Parries,Paul; Way,Kent; Wong,Kwong Hon, Early detection of contact liner integrity by chemical reaction.
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  19. Arena, John Joseph; Suto, Anthony J., Electronic assembly test system.
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  20. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for disk drive testing systems.
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  21. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for storage device testing systems.
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  22. Campbell, Philip; Wrinn, Joseph F., Engaging test slots.
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  23. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Heating storage devices in a testing system.
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  24. Kamiya Hiroshi (Tokyo JPX), High-speed bus apparatus with cooling means.
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  25. Jean Luc Pelissier ; Thomas P. Jones ; Jonathan E. Turner ; Mark F. Malinoski, Method and apparatus for temperature control of a device during testing.
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  26. Pelissier, Jean Luc, Method and apparatus for temperature control of a device during testing.
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  27. Wood,Alan G.; Corbett,Tim J.; Chadwick,Gary L.; Huang,Chender; Kinsman,Larry D., Method for burn-in testing semiconductor dice.
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  28. Rackerby Robert E. (San Diego CA) Zimmerman Jon L. (Escondido CA), Process and apparatus for producing temperature profiles in a workpiece as it passes through a belt furnace.
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  29. John Cochran ; Roger L. Perry, Product carrier for environmental test system.
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  30. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
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  31. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
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  32. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
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  33. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
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  34. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device testing system with a conductive heating assembly.
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  35. Yamahira Yutaka,JPX, Substitute processing apparatus with power distribution control for reduced power consumption during apparatus start up.
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  36. Jones, Thomas P.; Turner, Jonathan E.; Malinoski, Mark F., Temperature control of electronic devices using power following feedback.
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  37. Thomas P. Jones ; Jonathan E. Turner ; Mark F. Malinoski, Temperature control of electronic devices using power following feedback.
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  38. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
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  39. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
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  40. Merrow, Brian S., Temperature control within storage device testing systems.
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  41. Ebinuma Ryuichi (Kawasaki JPX) Kariya Takao (Hino JPX) Mizusawa Nobutoshi (Yamato JPX) Uda Koji (Yokohama JPX) Sakamoto Eiji (Sagamihara JPX) Uzawa Shunichi (Tokyo JPX), Temperature controlling device for mask and wafer holders.
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  42. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
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  43. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
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  44. Merrow, Brian S., Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit.
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  45. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
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  46. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
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  47. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  48. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  49. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  50. Merrow, Brian S., Vibration isolation within disk drive testing systems.
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