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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0242786 (1988-09-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 25 인용 특허 : 3 |
A probe for providing electrical contact to electrical circuits during the testing thereof. There is a tubular housing having an open end and a generally closed end with a main portion extending from the generally closed end towards the open end and a retaining and sliding bearing portion adjacent t
A probe for providing electrical contact to electrical circuits during the testing thereof comprising: (a) a tubular housing having an open end and a generally closed end, said housing comprising a main portion extending from said generally closed end towards said open end and an elongate retaining
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