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Electrical circuit test probe having an elongate cylindrical retaining and sliding bearing region 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-031/02
  • G01R-031/02
출원번호 US-0242786 (1988-09-09)
발명자 / 주소
  • Coe Thomas D. (Boxford MA)
출원인 / 주소
  • Q A Technology Company, Inc. (Hampton NH 02)
인용정보 피인용 횟수 : 25  인용 특허 : 3

초록

A probe for providing electrical contact to electrical circuits during the testing thereof. There is a tubular housing having an open end and a generally closed end with a main portion extending from the generally closed end towards the open end and a retaining and sliding bearing portion adjacent t

대표청구항

A probe for providing electrical contact to electrical circuits during the testing thereof comprising: (a) a tubular housing having an open end and a generally closed end, said housing comprising a main portion extending from said generally closed end towards said open end and an elongate retaining

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Coe Thomas D. (Boxford MA) Gross Robert F. (Melrose MA), Electrical circuit test probe and connector.
  2. Cooney James S. (Attleboro MA), Electrical contact construction.
  3. Marsella John R. (96 Horseneck Rd. Warwick RI 02886), Test probe.

이 특허를 인용한 특허 (25)

  1. Winter,John M.; Nelson,Larre H.; Bergeron,John C.; Sarcione,Lourie M., Apparatus for interfacing electronic packages and test equipment.
  2. Leon,Alexander, Arcuate blade probe with means for aligning the barrel and the shaft.
  3. Leon, Alexander, Circuit board testing using a probe.
  4. Raymond J. Caggiano ; Charles Colpo ; Jeffrey A. Hatley ; W. Peter Soroka ; Rondell K. Watts, Circuit trace probe and method.
  5. Carboni, Vittorio; Manzi, Paolo, Contact for electrical and electronic connections.
  6. Nakamura, Yuji; Suzuki, Katsumi, Contact probe.
  7. Mizuno Kouichi,JPX ; Morimoto Joji,JPX, Contact probe apparatus used in electric tests for a circuit board.
  8. Leon,Alexander, Dual arcuate blade probe tip.
  9. Henry, David; Zhou, Jiachun; Prabakaran, Kanapathipillai; Ji, Yingdong, Electrical connector with embedded shell layer.
  10. Alcoe,David, Electronic component test apparatus.
  11. Alcoe David James ; Caletka David Vincent, Electronic component test apparatus with rotational probe.
  12. Alcoe David James ; Caletka David Vincent, Electronic component test apparatus with rotational probe and conductive spaced apart means.
  13. Oshetski, Walter E.; Wyant, Todd C.; Wickett, Matthew J., Low profile electronic assembly test fixtures.
  14. Parker,Kenneth P; Jacobsen,Chris R, Method and apparatus for a twisting fixture probe for probing test access point structures.
  15. Leon,Alexander, Methods of using a blade probe for probing a node of a circuit.
  16. David W. Henry ; William E. Thurston ; Timothy W. Dowdle, Probe and test socket assembly.
  17. Soubh, Emad; McCartin, Doug; Wooldridge, Jeremy; Koopman, Steve, Probe having a field-replaceable tip.
  18. Mawby Terry P., Probe with tab retainer.
  19. Vander Horst, John, Recreational vehicle holding tank sensor probe.
  20. Tarzwell Patrick James, Resilient connector having a tubular spring.
  21. Kobayashi, Tatehito, Semiconductor device with electrode pad having probe mark.
  22. Swart Mark A. ; Vinther Gordon A., Spring probe and method for biasing.
  23. Parker, Matthew R.; Yeghiayan, Arra D.; Coe, Thomas D., Test probe and connector.
  24. Yeghiayan, Arra D.; Parker, Matthew R.; DeBlois, Marco; Melancon, Rene, Test probe and separable mating connector assembly.
  25. Oravsky Timothy W., Test probe retainer.
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