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[미국특허] System for testing individually a plurality of disk drive units 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-015/12
  • G01K-031/28
  • H05K-007/14
  • G11B-027/36
출원번호 US-0115164 (1987-10-30)
발명자 / 주소
  • Wilson Randall R. (Santa Ana CA) Dietz James E. (Yorba Linda CA)
출원인 / 주소
  • Wilson Laboratories, Inc. (Orange CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 58  인용 특허 : 3

초록 ▼

A tester for storage peripheral devices, such as Winchester disk drives, is provided. The tester comprises a test module which contains one or more ports. The storage peripheral device under test is placed into a carrier which is in turn inserted into the port. The carrier preferably includes a base

대표청구항 ▼

A system for testing a plurality of storage peripheral devices comprising; a test module containing a plurality of ports, a plurality of carrier means for holding one or more storage peripheral devices, the carrier means being further adapted to mate with the ports, each carrier containing a status

이 특허에 인용된 특허 (3) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Cutright Robert A. (Holland MI) Briggs Mark W. (Holland MI) Bouwman George J. (Hamilton MI), Apparatus for use in testing circuit boards.
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  2. Baldwin Dale B. (Madison WI) Heist Barry G. (Madison WI) McKinney Michael J. (Mount Horeb WI), Disk drive testing method and apparatus.
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  3. Young David N. (Glenrothes GB6), Heating oven.
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이 특허를 인용한 특허 (58) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Bell, James S.; Berry, Michael L., Apparatus and method for electronically encoding an article with work-in-progress information.
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  2. Bae,Min won; Moon,Sung uk; Choi,Jeong cheol, Apparatus for testing hard disk drive.
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  3. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
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  4. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
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  5. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
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  6. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
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  7. Wyckoff, Jan M.; Ellis, Vickie L.; Camacho, Manuel, Chassis for modular electronics assembly.
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  8. Ravid Gonen (29034 Acanthus Ct. Agoura Hills CA 91301), Circuit board guide and interfitting device to eliminate floating cables.
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  9. Rogel-Favila, Ben; Nalluri, Padmaja; Allison, Kirsten, Controlling automated testing of devices.
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  10. Rogel-Favila, Ben; Fishman, James, Customizable tester having testing modules for automated testing of devices.
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  11. Martino, Peter, Damping vibrations within storage device testing systems.
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  12. Tanzer Herbert J. ; Jupille Henry ; Tang Kenneth K. ; Poulter Darrel, Data storage module and enclosure system.
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  13. Merrow, Brian S.; Truebenbach, Eric L.; Smith, Marc Lesueur, Dependent temperature control within disk drive testing systems.
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  14. Hamid Lotfizadeh S., Disk drive test chamber.
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  15. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  16. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  17. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  18. Muncaster, Timothy J.; Saville, William A., Disk drive unit.
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  19. Doss Jeffrey ; Fischer Roy Kenneth ; Toltzman Randall Ronald ; Davey Christopher Harold, Docking module for portable computers.
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  20. Fujihara Kaoru,JPX ; Kuji Motohiro,JPX, Electrical inspecting apparatus with ventilation system.
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  21. Arena, John Joseph; Suto, Anthony J., Electronic assembly test system.
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  22. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for disk drive testing systems.
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  23. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for storage device testing systems.
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  24. Campbell, Philip; Wrinn, Joseph F., Engaging test slots.
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  25. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Heating storage devices in a testing system.
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  26. Lee Chang Y. (Kyungki-Do KRX), Magnetic recording and reproducing apparatus with game pack driver.
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  27. Moon,Sung uk; Choi,Jeong cheol, Method and apparatus for communication via serial multi-port, and recording medium.
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  28. Friedrich Stadelmayer ; T. Edward States ; John Soenderby ; Francesco Sacca, Method and apparatus for testing printed circuit board assemblies.
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  29. Shin,Chang ick, Method of testing hard disk drive and computer readable medium therefor.
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  30. Rogel-Favila, Ben; Fishman, James, Multi-configurable testing module for automated testing of a device.
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  31. Pakzad, Mostafa; Trinh, Minh H., Multi-drive adaptor for use in a slot of a disk drive test system.
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  32. Lochridge Edwin P. (452 Ridgewood Rd. Atlanta GA 30307), Personal computer housing.
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  33. Adnan Sarmad, Smart pallet for burn-in testing of computers.
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  34. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
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  35. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
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  36. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
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  37. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
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  38. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device testing system with a conductive heating assembly.
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  39. Rogel-Favila, Ben; Fishman, James, Supporting automated testing of devices in a test floor system.
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  40. Pietrzykoski Anthony E. ; Goss ; Jr. Floyd L. ; Mecca Charles, System and methods for measuring and correcting for overshoot in a high frequency (HF) signal generated by a compact dis.
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  41. Paek Woon-Juk,KRX ; Kang Jeong-Min,KRX ; Ryoo Dae-Geun,KRX ; Sung Young-Bok,KRX ; Nam Chang-Woo,KRX, System for testing hard disk drives.
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  42. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
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  43. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
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  44. Merrow, Brian S., Temperature control within storage device testing systems.
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  45. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
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  46. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
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  47. Kim Jin-euk,KRX ; Yoo Dae-geun,KRX ; Nam Chang-woo,KRX, Tester for peripheral storage device.
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  48. Merrow, Brian S., Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit.
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  49. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
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  50. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
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  51. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  52. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  53. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  54. Rogel-Favila, Ben; Wolff, Roland; Kushnick, Eric; Fishman, James, Universal container for device under test.
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  55. Rogel-Favila, Ben; Wolff, Roland; Kushnick, Eric; Fishman, James, Universal test cell.
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  56. Rogel-Favila, Ben; Wolff, Roland; Kushnick, Eric; Fishman, James; Su, Mei-Mei, Universal test floor system.
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  57. Pence Donald Dean ; Raley Jay Francis, Variegated manufacturing process test method and apparatus.
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  58. Merrow, Brian S., Vibration isolation within disk drive testing systems.
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