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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0767819 (1985-08-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 2 |
A probe for supporting a sample in an ion source of a mass spectrometer comprises a target formed by a copper probe tip for a liquid sample in which the sample passes through a fine bore 18a of the tip on to the end surface of the tip where it is held as a droplet by surface tension. In order to rep
Mass spectrometry apparatus for use in the continuous analysis of a sample of which the composition may, or may not, change with time, which comprises a high vacuum system; means for depositing a supply of the sample on a surface located within the high vacuum system, the depositing means including
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