[특허]Topographic mapping

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Topographic mapping 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01S-013/90
출원번호	US-0180209 (1988-04-11)
우선권정보	DE-3712065 (1987-04-09)
발명자 / 주소	Schuessler Harald (Daisendorf DEX) Bender Oswald (Friedrichshafen DEX)
출원인 / 주소	Dornier System GmbH (Friedrichshafen DEX 03)
인용정보	피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 4

초록 ▼

The present invention relates to a method for topographically mapping the surface of the Earth under utilization of measuring the altitude by means of radar, and under further utilization of a synthetic aperture for the radar, as well as an electronically controlled antenna lobe. In accordance with the preferred embodiment of the present invention, it is suggested to conically pivot the antenna lobe around a nadir, whereby pivoting of the center line follows a path such that the line constitutes the geneatrix of a cone.

대표청구항 ▼

Method for topographic mapping at least portions of the surface of the earth under utilization of altitude measurement by means of radar having a synthetic aperture using an electronically controlled antenna lobe, comprising the steps of: pivoting the antenna lobe in a conical pattern around the nadir by means of orthogonal phase control; maintaining the total transit time of a radar pulse for search and echo path constant; and determining the average altitude within a resolution cell, established by and through the center of gravity of the echo power profile.

이 특허에 인용된 특허 (4)

Kane Jerry A. (Crofton MD) Smith ; Jr. Winthrop W. (Maitland FL), Means for aligning elevation beam pattern along an isodop in synthetic aperture mapping radar.
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Goldstein, Richard M.; Caro, Edward R.; Wu, Chialin, Method and apparatus for contour mapping using synthetic aperture radar.
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Lee Henry E. (Columbia MD) Guillen Francisco J. (Ellicott City MD) Longuemare ; Jr. R. Noel (Ellicott City MD), Range swath coverage method for synthetic aperture radar.
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Richman Donald (Dix Hills NY), Three dimensional, azimuth-correcting mapping radar.
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이 특허를 인용한 특허 (14)

Calabrese, Diego, Acquisition of SAR images for computing a height or a digital elevation model by interferometric processing.
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D'Addio, Salvatore, Altimetry method and system.
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Welle, Roland; Dieterle, Levin, Determining a fill level and topology.
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Assa Steven Brent ; Ramshorn Christoph Clemens, Enforcing consistency in geoscience models.
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Kuo Shihjong (1433 NW. 189th Way #2 Beaverton OR 97006), Method and apparatus for acquiring digital maps.
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Assa Steven Brent,GBX ; Hammersley Richard Paul ; Lu Hong-Qian, Modeling at more than one level of resolution.
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Assa Steven Brent ; Celniker George William ; Endres David Mack, Modeling geological structures and properties.
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Wittenberg, Peter S., Multiple time-interleaved radar operation using a single radar at different angles.
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Celniker George William, Performing geoscience interpretation with simulated data.
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Robert H. Goebel ; Stacie K. Corrubia, Precision all-weather target location system.
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Corrubia Stacie K. ; Fogle Dale A. ; Goebel Robert H., Precision height measuring device.
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Nonaka, Takashi; Shibayama, Takashi; Takagishi, Susumu; Sasakawa, Tadashi, Radar image processor and method of radar image processing.
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Lin Chung-Chi,NLX ; Wilson John Julian William,GBX ; Impagnatiello Fabrizio,ITX ; Park Peter,CAX, Spaceborne scatterometer.
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Young Lawrence E. (La Canada CA) Srinivasan Jeffrey M. (Glendale CA) Meehan Thomas K. (Glendale CA) Munson Timothy N. (La Crescenta CA) Purcell ; Jr. George H. (Pasadena CA) Thomas Jess B. (La Canada, System and method for measuring ocean surface currents at locations remote from land masses using synthetic aperture rad.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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