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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0298052 (1989-01-18) |
우선권정보 | JP-0004310 (1988-01-18); JP-0007803 (1988-01-18); JP-0007804 (1988-01-18); JP-0018172 (1988-01-28); JP-0021100 (1988-02-19); JP-0021101 (1988-02-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 17 인용 특허 : 3 |
There is provided by the present invention an apparatus for measuring thermal conductivity. The apparatus is mainly composed of (a) a container adiabatically enclosing an inner space, (b) a heat source for heating a first surface of a specimen to be placed to divide the inner surface into a first sp
An apparatus for measuring thermal conductivity of a specimen, said specimen defining a first and a second surface and a periphery, said apparatus comprising: (a) a measuring chamber adiabatically enclosing an inner space, said measuring chamber containing the specimen and being maintained in contac
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